标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 43186.2-2023 |
有质量评定的声表面波(SAW)和体声波(BAW)双工器 第2部分:使用指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
CB/Z 160-1979 |
压电陶瓷材料机电耗合系数Kt测量方法 |
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1982-03-04 |
作废 |
CB/Z 161-1979 |
压电陶瓷材料居里温度Tc测量方法 |
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1982-03-04 |
作废 |
CB/Z 162-1979 |
压电陶瓷材料残胀系数ā1测量方法 |
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1982-03-04 |
废止 |
CB/Z 164-1979 |
压电陶瓷材料纵向振动测量方法 |
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1994-07-01 |
作废 |
CB/Z 165-1979 |
压电陶瓷材料等静压压电应变常数dH测量方法 |
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1994-07-01 |
废止 |
CB/Z 167-1979 |
压电陶瓷材料剩余极化Pr和矫顽场强Ec的测量方法 |
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1994-07-01 |
作废 |
GB/T 11297.12-2012 |
光学晶体消光比的测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
GB 12273-1990 |
石英晶体件总规范(可供认证用) |
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1990-10-01 |
作废 |
GB/T 12273-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
GB/T 12273.1-2017 |
有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
GB/T 12273.501-2012 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB 12274-1990 |
石英晶体振荡器总规范(可供认证用) |
信息产业部(电子)
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1990-10-01 |
作废 |
GB/T 12274.1-2012 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB/T 12274.4-2021 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第4部分:分规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 12274.401-2023 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
GB 12275-1990 |
石英晶体振荡器型号命名方法 |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |
GB/T 12859-1991 |
电子设备用压电陶瓷谐振器 总规范 (可供认证用) |
信息产业部(电子)
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1991-01-02 |
作废 |
GB/T 12859.1-2012 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第1部分:总规范-鉴定批准 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB/T 12859.2-2012 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2部分:分规范-鉴定批准 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB/T 12859.201-2012 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2-1部分:空白详细规范-评定水平E |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB/T 12860-1991 |
电子设备用压电陶瓷谐振器 分规范 低频压电陶瓷谐振器 |
国家技术监督局
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1991-01-02 |
作废 |
GB/T 12861-1991 |
电子设备用压电陶瓷谐振器 空白详细规范 低频压电陶瓷谐振器 评定水平E (可供认证用) |
信息产业部(电子)
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1991-01-02 |
作废 |
GB/T 12862-1991 |
电子设备用压电陶瓷谐振器 分规范 高频压电陶瓷谐振器 (可供认证用) |
国家技术监督局
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1991-01-02 |
作废 |
GB/T 12863-1991 |
电子设备用压电陶瓷谐振器 空白详细规范 高频压电陶瓷谐振器 评定水平E |
国家技术监督局
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1991-01-02 |
作废 |
GB/T 15020-1994 |
电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平 E |
国家技术监督局
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1994-01-02 |
作废 |
GB/T 15156-1994 |
压电陶瓷换能元件总规范 |
国家技术监督局
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1995-02-01 |
作废 |
GB/T 15156-2015 |
压电陶瓷换能元件总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-02-01 |
现行 |
GB/T 16516-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准 |
国家技术监督局
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1996-05-01 |
现行 |
GB/T 16517-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
GB/T 22317.1-2008 |
有质量评定的压电滤波器 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-01-01 |
现行 |
GB/T 22317.4-2023 |
有质量评定的压电滤波器 第4部分:分规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
GB/T 22317.401-2023 |
有质量评定的压电滤波器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
GB/T 22318.1-2008 |
声表面波谐振器 第1-1部分:总则和标准值 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-01-01 |
作废 |
GB/T 22318.1-2023 |
声表面波谐振器 第1部分:总规范 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
GB/T 22318.2-2008 |
声表面波谐振器 第1-2部分:试验条件 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-01-01 |
作废 |
GB/T 22318.2-2023 |
声表面波谐振器 第2部分:使用指南 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
GB/T 22319.11-2018 |
石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-10-01 |
现行 |
GB/T 22319.6-2023 |
石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
GB/T 22319.7-2015 |
石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-02-01 |
现行 |