石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 |
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| 标准编号：GB/T 12273.501-2012 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：29.0 元 |
客户评分：  |
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立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
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优先额定值见GB/T12273—1996的2.3。
———工作温度范围;
———电路条件;
———最大激励电平;
———激励电平测量;
———气候类别;
———机械试验严酷度。
按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IECQC001005得到。 |
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| 英文名称： |
Quartz crystal units A specification in the quality assessment system for electronic components Part 5.1: Blank detail specification- qualification approval |
 替代情况： |
替代GB/T 15020-1994 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 |
| ICS分类： |
电气工程>>电工器件>>29.120.70继电器 |
| 采标情况： |
IEC 61178-3-1:1993 IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-11-05 |
| 实施日期： |
2013-02-15
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| 首发日期： |
1994-04-04 |
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182) |
| 主管部门： |
全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182) |
| 起草单位： |
中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： |
章怡、姜连生、李晓英 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-02-15 |
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本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
GB/T12273《石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范》分为如下几个部分:
———第1部分:总规范;
———第2部分:使用指南;
———第3部分:标准外形和引出端连接;
———第4部分:分规范 能力批准;
———第4.1部分:空白详细规范 能力批准;
———第5部分:分规范 鉴定批准;
———第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准。
本部分为GB/T12273的第5.1部分。
本部分代替GB/T15020—1994《电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平E》,与GB/T15020—1994相比,除编辑性修改外主要变化如下:
———由于本标准的体系增加了分规范,空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容;
———删去了应该直接写在分规范中的规定内容;
———标准编号按标准不同部分进行了调整。
本部分使用重新起草法修改采用IEC61178-3-1:1993《石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系 第3部分:分规范 鉴定批准第一篇:空白详细规范》。
本部分与IEC61178-3-1:1993相比在结构上有调整,原因是:IEC61178-1被IEC60122-1:2002代替,目前IEC61178的其他部分还继续有效。根据IEC60122的预计结构,本部分应为IEC60122的第5.1部分,待修订时即进行编号调整。本部分采用了IEC60122的预计结构。这样的结构清晰并方便使用,并且与IEC有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致。
本部分作了下列编辑性修改:
———外形和尺寸图由第三视角改为第一视角;
———规范性引用文件中的IEC文件为目前的现行版本。
———用GB/T2828.1—2003代替IEC410:1973 计数检查抽样方案和程序,前者与后者在使用中无技术性差异。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所。
本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T15020—1994。 |
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前言 Ⅲ
1 总则 1
1.1 范围 1
1.2 规范性引用文件 1
1.3 详细规范的首页 2
2 继电器特性值 3
2.1 一般参数 3
2.2 IEC的型号规格组成(序列信息) 3
2.3 线圈参数 4
2.4 触点参数 4
2.4.1 电耐久性和循环频率 4
2.4.2 静态触点电路电阻 4
2.4.3 机械耐久性 4
2.4.4 时间(无抑制器件) 5
2.5 安装 5
2.6 环境参数 5
2.7 自动操作用继电器包装(当适用时) 5
3 鉴定批准程序 5
4 质量一致性检验 6
4.1 检验批的组成 6
4.2 检验周期 6
5 标志与文件 6
5.1 继电器标志 6
5.2 包装标志 6
5.3 文件 7
6 附录 7
7 试验 7
7.1 试验的标准条件 7
7.2 试验期间试验样品的安装 7
7.3 试验的一般条件 7
8 序列信息 7
9 继电器可靠性---失效率数据(任选) 7 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T12273—1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1 部分:总规范(IEC61178-1:1993,IDT) |
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