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微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

国家标准
标准编号:GB/T 43088-2023 标准状态:现行
标准价格:50.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件规定了利用透射电子显微镜(TEM)测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。
本文件适用于测定晶粒内不高于1×10 15m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
英文名称:  Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurementof the dislocation density in thin metals
什么是中标分类? 中标分类:  化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2023-09-07
实施日期:  2024-04-01
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司
起草人:  孟杨、鞠新华、朱国森、付新、马通达、崔桂彬、史学星、闫贺、王泽鹏、王雅晴、严春莲
页数:  28页【彩图】
出版社:  中国标准出版社
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