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微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法

国家标准
标准编号:GB/T 43610-2023 标准状态:即将实施
标准价格:49.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。
本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料,也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜(TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约,本文件适用于直径(或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。
注: 在本文件中,线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。
英文名称:  Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
标准状态:  即将实施
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方
什么是采标情况? 采标情况:  ISO 19214:2017
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2023-12-28
实施日期:  2024-07-01  即将实施 距离实施日期还有63
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  北京科技大学
起草人:  权茂华 柳得橹
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
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