| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 18735-2002 |
分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样 通用规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-12-01 |
作废 |
| GB/T 18873-2002 |
生物薄试样的透射电子显微镜子-X射线能谱定量分析通则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-06-01 |
作废 |
| GB/T 18907-2002 |
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-05-01 |
作废 |
| GB/T 19500-2004 |
X-射线光电子能谱分析方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2004-12-01 |
现行 |
| GB/T 20175-2006 |
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 |
国家标准化管理委员.
|
2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 20176-2006 |
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 |
国家标准化管理委员.
|
2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 20307-2006 |
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-02-01 |
现行 |
| GB/T 20726-2006 |
半导体探测器X射线能谱仪通则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-08-01 |
作废 |
| GB/T 23414-2009 |
微束分析 扫描电子显微术 术语 |
国家标准化管理委员.
|
2009-12-01 |
现行 |
| GB/T 26533-2011 |
俄歇电子能谱分析方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2011-12-01 |
现行 |
| GB 2986-1982 |
平面光栅摄谱仪基本参数系列 |
|
1982-12-01 |
作废 |
| GB/T 30543-2014 |
纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-11-01 |
现行 |
| GB/T 32525-2016 |
光电跟踪测量设备通用规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-09-01 |
现行 |
| GB/T 32526-2016 |
方位垂直传递装置通用规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-09-01 |
现行 |
| GB/T 32869-2016 |
纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2017-03-01 |
现行 |
| GB/T 34831-2017 |
纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 3719-1988 |
工具显微镜 |
中国机械工业联合会
|
1989-01-01 |
作废 |
| GB/T 42208-2022 |
纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-07-01 |
现行 |
| GB/T 43087-2023 |
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43610-2023 |
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-07-01 |
现行 |
| GB/T 43883-2024 |
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-11-01 |
现行 |
| GB 4930-1985 |
电子探针分析标准样品通用技术条件 |
|
1985-10-01 |
作废 |
| GB/T 6360-1995 |
激光功率能量测试仪器规范 |
国家技术监督局
|
1996-01-01 |
现行 |
| GB 7247.1-2001 |
激光产品的安全 第1部分：设备分类、要求和用户指南 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-05-01 |
作废 |
| GB 7667-1996 |
电子显微镜X射线泄漏剂量 |
国家技术监督局
|
1996-12-01 |
作废 |
| GB 7667-2003 |
电子显微镜X射线泄漏剂量 |
国家质量监督检验检疫.
|
2004-05-01 |
废止 |
| JB/T 10573-2006 |
工具显微镜 |
|
2006-10-11 |
作废 |
| JB/T 11144-2011 |
X射线衍射仪 |
工业和信息化部
|
2012-04-01 |
现行 |
| JB/T 11145-2011 |
X射线荧光光谱仪 |
工业和信息化部
|
2012-04-01 |
现行 |
| JB/T 5383-1991 |
透射电子显微镜 技术条件 |
机械工业部
|
1992-07-01 |
废止 |
| JB/T 5384-1991 |
扫描电子显微镜 技术条件 |
上海电子光学技术所
|
1992-07-01 |
废止 |
| JB/T 5476-1991 |
旋光糖量计 |
机械电子工业部
|
1992-07-01 |
废止 |
| JB/T 5478-1991 |
手动扫描光电直读光谱仪 |
机械电子工业部
|
1992-07-01 |
废止 |
| JB/T 5480-1991 |
电子显微镜用光阑 |
机械电子工业部
|
1992-07-01 |
作废 |
| JB/T 5481-1991 |
电子显微镜用灯丝 |
机械电子工业部
|
1992-07-01 |
废止 |
| JB/T 5482-1991 |
X射线定向仪技术条件 |
|
1992-07-01 |
作废 |
| JB/T 5482-2004 |
X射线晶体定向仪 技术条件 |
国家发展和改革委员会
|
2004-11-01 |
作废 |
| JB/T 5521-1991 |
光学传递函数 用于望远镜 |
上海光学仪器所
|
1992-07-01 |
现行 |
| JB/T 5522-1991 |
光学传递函数 用于35mm照相机用可换镜头 |
机械电子工业部
|
1992-07-01 |
现行 |
| JB/T 5584-1991 |
透射电子显微镜 放大率测试方法 |
机械电子工业部
|
1992-07-01 |
废止 |