| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 16594-1996 |
微米级长度的扫描电镜测量方法 |
国家技术监督局
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1997-04-01 |
作废 |
| GB/T 17359-1998 |
电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 |
国家质量技术监督局
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1998-12-01 |
作废 |
| GB/T 17360-1998 |
钢中低含量Si、Mn 的电子探针定量分析方法 |
国家质量技术监督局
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1998-01-02 |
作废 |
| GB/T 17360-2020 |
微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-04-01 |
现行 |
| GB/T 17361-1998 |
沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法 |
国家质量技术监督局
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1998-01-02 |
作废 |
| GB/T 17362-1998 |
黄金饰品的扫描电镜X射线 能谱分析方法 |
国家质量技术监督局
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1998-01-02 |
作废 |
| GB/T 17363-1998 |
黄金制品的电子探针定量测定方法 |
国家质量技术监督局
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1998-01-02 |
作废 |
| GB/T 17364-1998 |
黄金制品中金含量的无损定量分析方法 |
国家质量技术监督局
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1998-01-02 |
作废 |
| GB/T 17365-1998 |
金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法 |
国家标准化管理委员会
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1998-01-02 |
现行 |
| GB/T 17366-1998 |
矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法 |
国家质量技术监督局
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1998-01-02 |
现行 |
| GB/T 17506-1998 |
船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法 |
国家质量技术监督局
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1999-07-01 |
作废 |
| GB/T 17507-1998 |
电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件 |
国家质量技术监督局
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1999-07-01 |
作废 |
| GB/T 17722-1999 |
金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 |
国家质量技术监督局
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1999-01-02 |
现行 |
| GB/T 17723-1999 |
黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法 |
国家质量技术监督局
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1999-01-02 |
作废 |
| GB 18151-2000 |
激光防护屏 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-01-02 |
作废 |
| GB/T 18151-2008 |
激光防护屏 |
国家质量监督检验检疫.
|
2009-10-01 |
作废 |
| GB/T 18735-2002 |
分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样 通用规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-12-01 |
作废 |
| GB/T 18873-2002 |
生物薄试样的透射电子显微镜子-X射线能谱定量分析通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
作废 |
| GB/T 18907-2002 |
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
作废 |
| GB/T 20307-2006 |
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-02-01 |
现行 |
| GB/T 20726-2006 |
半导体探测器X射线能谱仪通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-08-01 |
作废 |
| GB/T 23414-2009 |
微束分析 扫描电子显微术 术语 |
国家标准化管理委员.
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2009-12-01 |
现行 |
| GB/T 26533-2011 |
俄歇电子能谱分析方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-12-01 |
现行 |
| GB 2986-1982 |
平面光栅摄谱仪基本参数系列 |
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1982-12-01 |
作废 |
| GB/T 30543-2014 |
纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-11-01 |
现行 |
| GB/T 32525-2016 |
光电跟踪测量设备通用规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-09-01 |
现行 |
| GB/T 32526-2016 |
方位垂直传递装置通用规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-09-01 |
现行 |
| GB/T 32869-2016 |
纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-03-01 |
现行 |
| GB/T 34831-2017 |
纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 34831-2017E |
纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法（英文版） |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 3719-1988 |
工具显微镜 |
中国机械工业联合会
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1989-01-01 |
作废 |
| GB/T 42208-2022 |
纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-07-01 |
现行 |
| GB/T 43087-2023 |
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43610-2023 |
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-07-01 |
现行 |
| GB/T 43748-2024 |
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43883-2024 |
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-11-01 |
现行 |
| GB 4930-1985 |
电子探针分析标准样品通用技术条件 |
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1985-10-01 |
作废 |
| GB/T 6360-1995 |
激光功率能量测试仪器规范 |
国家技术监督局
|
1996-01-01 |
现行 |
| GB 7247.1-2001 |
激光产品的安全 第1部分：设备分类、要求和用户指南 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
作废 |
| GB 7667-1996 |
电子显微镜X射线泄漏剂量 |
国家技术监督局
|
1996-12-01 |
作废 |