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英文名称: |
Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method |
中标分类: |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
ICS分类: |
17.180.01;37.020 |
发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2017-11-01 |
实施日期: |
2018-05-01
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提出单位: |
中国科学院 |
归口单位: |
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279) |
起草单位: |
国家纳米科学中心、北京粉体技术协会 |
起草人: |
齐笑迎、常怀秋、朱晓阳、贺蒙、高原 |
页数: |
24页 |
出版社: |
中国标准出版社 |