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微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法

国家标准
标准编号:GB/T 43883-2024 标准状态:现行
标准价格:54.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下,且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行,其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。
注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。
注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。
注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况,将增大颗粒计数的不确定度。
英文名称:  Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining the number density of nanoparticles in a metal
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2024-04-25
实施日期:  2024-11-01
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、牛津仪器科技(上海)有限公司
起草人:  娄艳芝 柳得橹 徐宁安
页数:  32页
出版社:  中国标准出版社
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