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| 英文名称： |
General specification of nanometer thin STANDARD specimen for analytical transmission electron microscopy (AEM/EDS) |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 18735-2014代替 |
| 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： |
2002-05-22 |
| 实施日期： |
2002-12-01
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| 作废日期： |
2015-03-01
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| 首发日期： |
2002-05-22 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
武汉理工大学、中科院广州地球化学研究所 |
| 起草人： |
孙振亚、刘永康 |
| 页数： |
平装16开， 页数：6， 字数：10千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-19035 |
| 出版日期： |
2002-12-01 |
| 标准前页： |
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