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| 英文名称： |
General specification of X-ray EDS quantitative analysis for EPMA and SEM |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 17359-2012代替 |
| 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1998-05-08 |
| 实施日期： |
1998-12-01
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| 作废日期： |
2013-02-01
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| 首发日期： |
1998-05-08 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中国有色金属工业总公司北京有色金属研究总院、地矿部地质科学研究院矿床地质研究所、核工业部北京地质研究院 |
| 起草人： |
刘安生、周剑雄、张宜 |
| 页数： |
9页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-15359 |
| 出版日期： |
1998-11-01 |
| 标准前页： |
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