|
| 英文名称： |
Gold-plated thickness measurement by SEM |
 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1999-04-01 |
| 实施日期： |
1999-01-02
|
| 首发日期： |
1999-04-11 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中国科学院北京科仪研制中心 |
| 页数： |
平装16开， 页数：7， 字数：10千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-15975 |
| 出版日期： |
2004-04-16 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|