| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| JB/T 9328-1999 |
分辨力板 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| GB/T 44436-2024 |
软X射线-极紫外波段空间成像仪器实验室检测与定标方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-09-29 |
现行 |
| JB/T 8237-1999 |
直角棱镜 |
全国光学和光学仪器标.
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2000-01-01 |
现行 |
| GB/T 2831-2009 |
光学零件的面形偏差 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
现行 |
| JB/T 5475-1991 |
网格板 |
上海光学仪器所
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1992-07-01 |
废止 |
| GB/T 44450-2024 |
光学和光子学 光学材料和元件 0.78 μm～25 μm红外光谱用光学材料特性 |
国家市场监督管理总局.
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2025-01-01 |
即将实施 |
| JB/T 6266-1992 |
光学测角比较仪 基本参数 |
机械电子工业部
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1993-04-01 |
现行 |
| GB/T 26332.1-2018 |
光学和光子学 光学薄膜 第1部分：定义 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-10-01 |
现行 |
| GB/T 26332.1-2024 |
光学和光子学 光学薄膜 第1部分：术语 |
国家市场监督管理总局.
|
2025-04-01 |
即将实施 |
| GB/T 31010-2014E |
色散型高光谱遥感器实验室光谱定标 |
国家质量监督检验检疫.
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2015-02-01 |
现行 |
| GB/T 10050-1988 |
光学和光学仪器 参考波长 |
中国机械工业联合会
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1989-07-01 |
作废 |
| GB/T 10050-2009 |
光学和光学仪器 参考波长 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-12-01 |
现行 |
| GB/T 10248-1988 |
气体分析 校准用混合气体的制备 静态体积法 |
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1989-07-01 |
作废 |
| GB/T 10248-2005 |
气体分析 校准用混合气体的制备 静态体积法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2005-12-01 |
现行 |
| GB/T 10988-2009 |
光学系统杂(散)光测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-12-01 |
现行 |
| GB/T 11153-2012 |
激光小功率计性能检测方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 11162-2009 |
光学分划零件通用技术条件 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-12-01 |
现行 |
| GB 11168-1989 |
光学系统像质 测试方法 |
中国机械工业联合会
|
1989-05-01 |
作废 |
| GB/T 11168-2009 |
光学系统像质测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-12-01 |
现行 |
| GB/T 1185-1989 |
光学零件表面疵病 |
中国机械工业联合会
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1990-01-01 |
作废 |
| GB/T 1204-1975 |
光学零件的倒角 |
中国机械工业联合会
|
1976-01-01 |
作废 |
| GB 1205-1975 |
透镜边缘及中心最小厚度 |
中国机械工业联合会
|
1976-01-01 |
作废 |
| GB 12085.1-1989 |
光学和光学仪器环境试验方法 试验范围术语 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12085.1-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.1-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-05-01 |
现行 |
| GB 12085.10-1989 |
光学和光学仪器环境试验方法 综合振动(正弦)与高温或低温 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12085.10-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB 12085.11-1989 |
光学和光学仪器环境试验方法 长霉 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12085.11-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分：长霉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.11-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第11部分：长霉 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-05-01 |
现行 |
| GB 12085.12-1989 |
光学和光学仪器环境试验方法 污染 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12085.12-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第12部分：污染 |
国家质量监督检验检疫.
|
2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.12-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第12部分：污染 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-05-01 |
现行 |
| GB 12085.13-1989 |
光学和光学仪器环境试验方法 综合冲击、碰撞或自由跌落与高温或低温 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12085.13-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分：冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB 12085.14-1989 |
光学和光学仪器环境试验方法 露、霜、冰 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12085.14-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第14部分：露、霜、冰 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.14-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第14部分：露、霜、冰 |
国家市场监督管理总局.
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2023-05-01 |
现行 |
| GB/T 12085.15-1995 |
光学和光学仪器 环境试验方法 宽带随机振动(中再现性)与高温、低温综合试验 |
国家技术监督局
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1996-08-01 |
作废 |
| GB/T 12085.15-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第15部分：宽带随机振动（数字控制）与高温、低温综合试验 |
国家质量监督检验检疫.
|
2011-05-01 |
作废 |