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| 英文名称： |
Electromagnetic compatibility Testing and measurement techniques Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity tests |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 17626.11-2008代替 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容 |
| ICS分类： |
电信、音频和视频技术>>33.100电磁兼容性(EMC) |
| 采标情况： |
idt IEC 61000-4-11:1994 |
| 发布部门： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1999-09-01 |
| 实施日期： |
2000-06-01
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| 作废日期： |
2009-01-01
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| 首发日期： |
1999-09-13 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国电磁兼容标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
机械工业部上海电器科学研究所 |
| 页数： |
平装16开， 页数：15， 字数：27千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-16350 |
| 出版日期： |
2004-03-24 |
| 标准前页： |
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