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| 英文名称： |
The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H24金相检验方法 |
| ICS分类： |
冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合 |
| 发布部门： |
国家技术质量监督局 |
| 发布日期： |
2000-04-03 |
| 实施日期： |
2000-09-01
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| 首发日期： |
2000-04-03 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
国家有色金属工业局 |
| 归口单位： |
全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
北京有色金属研究总院 |
| 起草人： |
王海涛、钱嘉裕、王彤涵、宋斌、樊成才 |
| 页数： |
【彩图】7页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066·1-16984 |
| 出版日期： |
2000-09-01 |
| 标准前页： |
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