| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 13925-2010 |
铸造高锰钢金相 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-06-01 |
现行 |
| GB/T 13925-2010E |
铸造高锰钢金相（英文版） |
国家质量监督检验检疫.
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2011-06-01 |
现行 |
| DB37/T 3142-2018 |
小径管焊接接头相控阵超声检测技术规程 |
山东省质量技术监督局
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2018-03-13 |
废止 |
| DB37/T 3143-2018 |
小径管管座角接焊接接头相控阵超声检测技术规程 |
山东省质量技术监督局
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2018-03-13 |
废止 |
| DB37/T 3589-2019 |
再制造 激光熔覆层与基体结合强度试验 试样制备方法 |
山东省市场监督管理局
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2019-06-29 |
现行 |
| DB37/T 3590-2019 |
再制造 激光熔覆层与基体结合强度试验方法及评定 |
山东省市场监督管理局
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2019-06-29 |
现行 |
| DB37/T 4360-2021 |
中大径管道焊接接头相控阵超声检测技术规程 |
山东省市场监督管理局
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2021-04-11 |
废止 |
| DB37/T 4361-2021 |
螺栓相控阵超声检测技术规程 |
山东省市场监督管理局
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2021-04-11 |
废止 |
| DL/T 999-2006 |
电站用2.25Cr-1Mo钢球化评级标准 |
国家发展和改革委员会
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2006-10-01 |
现行 |
| GB/T 10567.2-2007 |
铜及铜合金加工材残余应力检验方法氨薰试验法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-04-01 |
现行 |
| GB/T 11073-2007 |
硅片径向电阻率变化的测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-02-01 |
现行 |
| GB/T 14140.1-1993 |
硅片直径测量方法 光学投影法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14140.2-1993 |
硅片直径测量方法 千分尺法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 1550-1997 |
非本征半导体材料导电类型测试方法 |
国家技术监督局
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1997-01-02 |
作废 |
| GB/T 1553-1997 |
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 |
国家技术监督局
|
1997-01-02 |
作废 |
| GB/T 15615-1995 |
硅片抗弯强度测试方法 |
国家技术监督局
|
1996-02-01 |
作废 |
| GB/T 16481-1996 |
稀土元素微波等离子体炬发射光谱(MPT-AES)标准谱表 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
废止 |
| GB/T 17473.1-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 |
国家质量技术监督局
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1999-03-01 |
作废 |
| GB/T 17473.2-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 |
国家质量技术监督局
|
1999-03-01 |
作废 |
| GB/T 17473.3-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 |
国家质量技术监督局
|
1999-03-01 |
作废 |
| GB/T 17473.4-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定 |
国家质量技术监督局
|
1999-03-01 |
作废 |
| GB/T 17473.5-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 |
国家质量技术监督局
|
1999-03-01 |
作废 |
| GB/T 17473.6-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 |
国家质量技术监督局
|
1999-03-01 |
作废 |
| GB/T 17473.7-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验 |
国家质量技术监督局
|
1999-03-01 |
作废 |
| GB/T 18032-2000 |
砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 |
国家技术质量监督局
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2000-09-01 |
现行 |
| GB/T 18036-2000 |
铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-09-01 |
作废 |
| GB/T 18502-2018 |
临界电流测量 银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 18876.1-2002 |
应用自动图像分析测定钢和其它金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第1部分：钢和其它金属中夹杂物或第二相组织含量的图像分析与体视学测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
作废 |
| GB/T 18876.1-2024 |
应用自动图像分析测定钢和其他金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第1部分：钢和其他金属中夹杂物或第二相组织含量的图像分析与体视学测定 |
国家市场监督管理总局.
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2025-03-01 |
现行 |
| GB/T 18876.2-2006 |
应用自动图像分析测定钢和其它金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第2部分：钢中夹杂物级别的 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-02-01 |
作废 |
| GB/T 18876.2-2024 |
应用自动图像分析测定钢和其他金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第2部分：钢中夹杂物级别的图像分析与体视学测定 |
国家市场监督管理总局.
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2025-03-01 |
现行 |
| GB/T 18876.3-2008 |
应用自动图像分析测定钢和其它金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第3部分 钢中碳化物级别的图像分析与体视学测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
现行 |
| GB/T 19289-2003 |
电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-04-01 |
作废 |
| GB/T 19346-2003 |
非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
作废 |
| GB/T 1979-2001 |
结构钢低倍组织缺陷评级图 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
现行 |
| GB/T 19921-2005 |
硅抛光片表面颗粒测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-04-01 |
作废 |
| GB/T 19922-2005 |
硅片局部平整度非接触式标准测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-04-01 |
现行 |
| GB/T 21546-2008 |
铌钛复合超导体的直流临界电流测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
现行 |
| GB/T 22638.1-2008 |
铝箔试验方法 第1部分：厚度的测定 重量法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-11-01 |
作废 |
| GB/T 22638.1-2016 |
铝箔试验方法 第1部分: 厚度的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-11-01 |
现行 |