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| 英文名称： |
Standard method for showing and measuring dislocation etch pits in Indium Antimonide single crystal |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料 |
| ICS分类： |
29.040.30 |
| UDC分类： |
621.868.274;621.193.4 |
| 发布部门： |
中华人民共和国机械电子工业部 |
| 发布日期： |
1988-10-09 |
| 实施日期： |
1990-01-01
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| 首发日期： |
1989-03-31 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
机械电子工业部第十一研究所 |
| 起草人： |
李文华 |
| 页数： |
3页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 标准前页： |
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