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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
标准编号:
GB/T 11685-2003
标准状态:
现行
标准价格:
54.0
元
客户评分:
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标准简介
本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。
本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。
英文名称:
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
替代情况:
GB/T 8992-1988
GB/T 11685-1989
中标分类:
能源、核技术
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ICS分类:
能源和热传导工程
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27.120.01核能综合
采标情况:
NEQ IEC 60759:1983
发布部门:
国防科学技术工业委员会
发布日期:
2003-07-07
实施日期:
2004-01-01
首发日期:
1989-10-14
复审日期:
2023-12-28
提出单位:
全国核仪器仪表标准化技术委员会
归口单位:
核工业标准化研究所
主管部门:
国防科学技术工业委员会
起草单位:
核工业标准化研究所
起草人:
熊正隆
页数:
26页
出版社:
中国标准出版社
书号:
155066.1-19982
出版日期:
2004-04-09
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