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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

国家标准
标准编号:GB/T 11685-2003 标准状态:现行
标准价格:30.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。
本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。
英文名称:  Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
什么是中标分类? 中标分类:  能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  能源和热传导工程>>核能工程>>27.120.01核能综合
什么是采标情况? 采标情况:  NEQ IEC 60759:1983
发布部门:  国防科学技术工业委员会
发布日期:  2003-07-07
实施日期:  2004-01-01
首发日期:  1989-10-14
复审日期:  2004-10-14
提出单位:  全国核仪器仪表标准化技术委员会
什么是归口单位? 归口单位:  核工业标准化研究所
主管部门:  国防科学技术工业委员会
起草单位:  核工业标准化研究所
起草人:  熊正隆
页数:  26页
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066.1-19982
出版日期:  2004-04-09
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2003年第8号 (总第56号) [2003-08-29]

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