| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 7739.9-2025 |
金精矿化学分析方法 第9部分：碳量的测定 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 45770-2025 |
表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 20176-2006 |
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 |
国家标准化管理委员会
|
2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 19500-2025 |
表面化学分析 X射线光电子能谱分析方法通则 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 42658.3-2025 |
表面化学分析 样品处理、制备和安装 第3部分：生物材料 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 29509.1-2013 |
载金炭化学分析方法 第1部分：金量的测定 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-02-01 |
现行 |
| GB/T 45773-2025 |
表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 32996-2016 |
表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 |
国家质量监督检验检疫.
|
2017-09-01 |
现行 |
| GB/T 32996-2025 |
表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 16477.1-2024E |
稀土硅铁合金及镁硅铁合金化学分析方法 第1部分：稀土总量、十五个稀土元素含量的测定 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-04-25 |
现行 |
| GB/T 45772-2025 |
表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 7739.1-2019E |
金精矿化学分析方法 第1部分：金量和银量的测定（英文版） |
国家市场监督管理总局.
|
2020-11-01 |
现行 |
| GB/T 20899.9-2007 |
金矿石化学分析方法 第9部分：碳量的测定 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 20899.9-2025 |
金矿石化学分析方法 第9部分：碳量的测定 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 42518-2023E |
锗酸铋（BGO）晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法（英文版） |
国家市场监督管理总局.
|
2023-09-01 |
现行 |
| GB/T 45768-2025 |
表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 7739.10-2025 |
金精矿化学分析方法 第10部分：锑量的测定 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 45769-2025 |
表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 20899.10-2025 |
金矿石化学分析方法 第10部分：锑量的测定 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| GB/T 20175-2006 |
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 |
国家标准化管理委员会
|
2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 20899.10-2007 |
金矿石化学分析方法 第10部分：锑量的测定 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 7739.10-2007 |
金精矿化学分析方法 第10部分：锑量的测定 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-11-01 |
现行 |
| GB/T 20175-2025 |
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |
| JC/T 440-2023 |
玻璃工业用白云石化学分析方法 |
工业和信息化部
|
2024-07-01 |
现行 |
| GB/T 20176-2025 |
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |