15 中国标准分类[A01技术管理]-工标网
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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> A综合 >> A00/09 标准化管理与一般规定 >> A01技术管理
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 SJ 2295-1983  接收用电子束管加速寿命试验方法 1983-10-01 现行
 SJ 2316-1983  扬声器用纸浆技术条件 电子工业部 1983-10-01 现行
 SJ 2317-1983  扬声器纸浆的弹性模量、损耗因数的测量方法 1983-10-01 现行
 SJ 2351-1983  SF-25型视像管 1983-12-01 废止
 SJ 2352-1983  SF-26型视像管 1983-12-01 废止
 SJ 2353-1983  SF-27型视像管 1983-12-01 废止
 SJ 2384-1983  GDB-221型光电倍增管 1984-05-01 现行
 SJ 2420-1983  电容器和电阻器引出线的优选直径 1984-06-01 现行
 SJ 2423-1983  船用导航雷达设备用图形符号 电子工业部 1984-05-01 废止
 SJ 2425-1983  金属细丝拉伸试验方法 1984-10-01 现行
 SJ 2477-1984  发射管灯丝断续通电试验方法 1985-01-01 现行
 SJ 2478-1984  31SX3B型黑白显像管 1985-01-01 废止
 SJ 2526-1984  摄像管系列型谱 1985-07-01 废止
 SJ 2532-1984  雷达用高压和大功率脉冲形成网络通用技术条件 1985-07-01 现行
 SJ 2533-1984  雷达用高压和大功率脉冲变压器通用技术条件 1985-07-01 现行
 SJ 2534.1-1984  天线测试方法 天线测试场的测试设备 电子工业部 1985-07-01 现行
 SJ 2534.10-1986  天线测试方法 功率增益和方向性的测量 电子工业部 1986-10-01 现行
 SJ 2534.11-1987  天线测试方法 辐射效率的确定 电子工业部 1987-06-01 现行
 SJ 2534.12-1987  天线测试方法 角跟踪天线的特殊测量 1987-06-01 现行
 SJ 2534.13-1987  天线测试方法 电磁辐射的危害 电子工业部 1987-06-01 现行
 SJ 2534.14-1985  天线测试方法 阻抗测量 1986-07-01 现行
 SJ 2534.15-1987  天线测试方法 环境因素 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.16-1987  天线测试方法 功率容量的测量 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.2-1985  天线测试方法 天线测试场的设计 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.3-1984  天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图 电子工业部 1985-07-01 现行
 SJ 2534.4-1985  天线测试方法 天线测试场的鉴定 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.5-1985  天线测试方法 特殊测量方法 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.6-1985  天线测试方法 天线测试场的操作 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.7-1986  天线测试方法 幅度方向图的现场测量 电子工业部 1986-10-01 现行
 SJ 2534.8-1986  天线测试方法 相位测量 电子工业部 1986-10-01 现行
 SJ 2534.9-1985  天线测试方法 极化测量 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2560-1984  753型船用导航雷达技术条件 电子工业部 1985-10-01 废止
 SJ 2572-1985  太阳能电池用硅单晶棒、片 电子工业部 1985-10-01 作废
 SJ 2585-1985  雷达设备研制过程中可靠性监控程序 电子工业部 1986-01-01 废止
 SJ 2593-1985  高纯四氧化硅 1986-01-01 现行
 SJ 2594-1985  高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法 1986-01-01 现行
 SJ 2595-1985  高纯四氯化硅中痕量磷的分光光度比色测试方法 1984-01-01 现行
 SJ 26-79  小功率电子管寿命试验方法 1980-06-01 现行
 SJ/Z 2655-1986  锗单晶缺陷图集 1986-10-01 废止
 SJ 2656-1986  钨的光谱分析方法 电子工业部 1986-10-01 现行
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