3 ICS国际标准分类[19.040环境试验]-工标网
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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> ICS分类 >> 试验 >>19.040 环境试验
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 2423.1-2001  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 国家质量监督检验检疫. 2001-12-01 作废
 GB/T 2423.10-1995  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc和导则:振动(正弦) 国家技术监督局 1996-08-01 作废
 GB/T 2423.10-2008  电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fc: 振动(正弦) 国家质量监督检验检疫. 2008-10-01 作废
 GB/T 2423.10-2019  环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc: 振动(正弦) 国家市场监督管理总局. 2020-01-01 现行
 GB/T 2423.101-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:倾斜和摇摆 国家质量监督检验检疫. 2008-12-01 现行
 GB/T 2423.102-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合 国家质量监督检验检疫. 2008-12-01 现行
 GB/T 2423.11-1997  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fd:宽频带随机振动--一般要求 国家技术监督局 1998-10-01 作废
 GB/T 2423.12-1997  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fda:宽频带随机振动--高再现性 国家技术监督局 1998-10-01 作废
 GB/T 2423.13-1997  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fdb:宽频带随机振动--中再现性 国家技术监督局 1998-10-01 作废
 GB/T 2423.14-1997  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fdc:宽频带随机振动--低再现性 国家技术监督局 1998-10-01 作废
 GB/T 2423.15-1995  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度 国家技术监督局 1996-08-01 作废
 GB/T 2423.15-2008  电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速度 国家质量监督检验检疫. 2008-10-01 现行
 GB/T 2423.16-1999  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉 国家质量技术监督局 2000-06-01 作废
 GB/T 2423.16-2022  环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉 国家市场监督管理总局. 2023-02-01 现行
 GB/T 2423.17-1993  电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法 国家技术监督局 1994-07-01 作废
 GB/T 2423.18-2000  电工电子产品环境试验 第2部分:试验 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液) 国家质量监督检验检疫. 2000-08-01 作废
 GB/T 2423.18-2012  环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液) 国家质量监督检验检疫. 2013-02-01 作废
 GB/T 2423.18-2021  环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液) 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行
 GB 2423.19-1981  电工电子产品基本环境试验规程 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法 中国电器工业协会 1982-04-01 作废
 GB/T 2423.19-2013  环境试验 第2部分:试验方法 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验 国家质量监督检验检疫. 2014-03-07 现行
 GB/T 2423.2-2001  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 国家质量监督检验检疫. 2002-06-01 作废
 GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 国家质量监督检验检疫. 2009-10-01 现行
 GB 2423.20-1981  电工电子产品基本环境试验规程 试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法 中国电器工业协会 1982-04-01 作废
 GB/T 2423.20-2014  环境试验 第2部分:试验方法 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验 国家质量监督检验检疫. 2015-04-01 现行
 GB 2423.21-1991  电工电子产品基本环境试验规程 试验 M: 低气压试验方法 国家技术监督局 1992-02-01 作废
 GB/T 2423.21-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压 国家质量监督检验检疫. 2009-10-01 现行
 GB/T 2423.22-2002  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 国家质量监督检验检疫. 2003-01-01 作废
 GB/T 2423.22-2012  环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 国家质量监督检验检疫. 2013-06-01 现行
 GB/T 2423.23-1995  电工电子产品环境试验 试验Q:密封 国家技术监督局 1995-08-01 作废
 GB/T 2423.23-2013  环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封 国家质量监督检验检疫. 2014-03-07 现行
 GB/T 2423.24-1995  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射 国家技术监督局 1996-08-01 作废
 GB/T 2423.24-2013  环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 国家质量监督检验检疫. 2014-03-07 作废
 GB/T 2423.24-2022  环境试验 第2部分:试验方法 试验S:模拟地面上的太阳辐射及太阳辐射试验和气候老化试验导则 国家市场监督管理总局. 2023-02-01 现行
 GB/T 2423.25-1992  电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 国家技术监督局 1993-03-01 作废
 GB/T 2423.25-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 国家质量监督检验检疫. 2009-10-01 作废
 GB/T 2423.26-1992  电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 国家技术监督局 1993-03-01 作废
 GB/T 2423.26-2008  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 中国电器工业协会 2009-10-01 作废
 GB/T 2423.27-1981  电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法 中国电器工业协会 1982-04-01 作废
 GB/T 2423.27-2005  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废
 GB/T 2423.27-2020  环境试验 第2部分:试验方法 试验方法和导则:温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验 国家市场监督管理总局. 2020-12-01 现行
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