| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 45968-2025 |
量子信息用光学级近化学计量比铌酸锂晶体 |
国家市场监督管理总局.
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2026-02-01 |
现行 |
| GB/T 46135.1-2025 |
有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第1部分：热学性能 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46135.2-2025 |
有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第2部分：光学性能 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46135.3-2025 |
有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第3部分：纯度 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46177-2025 |
有机发光显示用偏光片 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46178-2025 |
电子级四（二甲氨基）钛 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46191-2025 |
电子级五（二甲氨基）钽 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46192.1-2025 |
液晶配向膜测试方法 第1部分：理化性能 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46192.2-2025 |
液晶配向膜测试方法 第2部分：成膜性能 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46192.3-2025 |
液晶配向膜测试方法 第3部分：光电性能 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46377-2025 |
混合液晶测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46378-2025 |
集成电路封装用球形氧化铝微粉 |
国家市场监督管理总局.
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2026-02-01 |
现行 |
| GB/T 46379-2025 |
集成电路用双马来酰亚胺三嗪（BT）封装基材 |
国家市场监督管理总局.
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2026-02-01 |
现行 |
| GB/T 46380-2025 |
电子级N-甲基-2-吡咯烷酮 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46381-2025 |
集成电路封装用低放射性球形氧化硅微粉 |
国家市场监督管理总局.
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2026-02-01 |
现行 |
| GB/T 46611-2025 |
电光调制器用铌酸锂单晶薄膜 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46697-2025 |
电子级八甲基环四硅氧烷 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46698-2025 |
电子级四氯化钛 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 46699-2025 |
电子级四甲基硅烷 |
国家市场监督管理总局.
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2026-05-01 |
即将实施 |
| GB/T 4779.1-1984 |
彩色显象管用荧光粉Y22-G3荧光粉 |
信息产业部（电子）
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1985-08-01 |
作废 |
| GB/T 4779.2-1984 |
彩色显象管用荧光粉Y22-B2荧光粉 |
信息产业部（电子）
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1985-08-01 |
作废 |
| GB/T 4779.3-1984 |
彩色显像管用荧光粉Y22-R4荧光粉 |
信息产业部（电子）
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1985-08-01 |
作废 |
| GB/T 5593-1996 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
| GB 5594.1-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 |
国家标准局
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1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.2-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.3-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.4-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.5-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1986-01-02 |
现行 |
| GB 5594.6-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.7-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.8-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5596-1996 |
电容器用陶瓷介质材料 |
国家技术监督局
|
1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 5597-1999 |
固体电介质微波复介电常数的测试方法 |
国家质量技术监督局
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1999-01-02 |
现行 |
| GB/T 5838-1986 |
荧光粉名词术语 |
国家标准局
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1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5838.1-2015 |
荧光粉 第1部分：术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 6145-1999 |
锰铜、康铜精密电阻合金线、片及带 |
国家质量技术监督局
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2000-05-01 |
作废 |
| GB/T 6145-2010 |
锰铜、康铜精密电阻合金线、片及带 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
现行 |
| GB/T 6149-2010 |
新康铜电阻合金 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
现行 |
| GB/T 6426-1999 |
铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法 |
国家质量技术监督局
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1999-12-01 |
作废 |
| GB/T 6426-2025 |
铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2026-03-01 |
现行 |