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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 JC/T 2849-2024  掺铈硅酸镥单晶 工业和信息化部 2025-05-01 现行
 GB/T 28862-2012  环氧粉末包封料试样加工方法 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 GB/T 13170-2011  反射式电视测试图 国家质量监督检验检疫. 2012-07-01 现行
 T/CASAS 045-2024  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态栅偏试验方法 北京第三代半导体产业. 2024-11-19 现行
 GB/T 18462-2025  激光加工机械 金属切割的性能规范 国家市场监督管理总局. 2025-09-01 即将实施
 GB/T 28159-2011  电子级磷酸 国家质量监督检验检疫. 2012-07-01 现行
 T/CASAS 037-2024  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)栅极电荷测试方法 北京第三代半导体产业. 2024-11-19 现行
 GB/T 31379.1-2025  平板显示器偏光片测试方法 第1部分:理化性能 国家市场监督管理总局. 2025-10-01 即将实施
 GB/T 27700.1-2011  有质量评定的声表面波(SAW)滤波器 第1部分:总规范 国家质量监督检验检疫. 2012-05-01 作废
 T/SLDA 013-2023  Mini/Micro LED直显屏舒适度评价方法 深圳市照明与显示工程. 2023-12-31 现行
 JC/T 2690-2022  铽镓石榴石(TGG)磁光晶体 工业和信息化部 2023-04-01 现行
 GB/T 12859.1-2012  电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第1部分:总规范-鉴定批准 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 T/CIE 225-2024  硅光芯片封装设计指南 中国电子学会 2024-07-01 现行
 GB/T 10190-2012  电子设备用固定电容器 第16部分: 分规范 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 GB/T 10191-2011  电子设备用固定电容器 第16-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E和EZ 国家质量监督检验检疫. 2012-07-01 现行
 T/CIE 146-2022  微机电(MEMS)器件晶圆键合试验评价方法 中国电子学会 2023-01-31 现行
 GB/T 28860-2012  环氧粉末包封料胶化时间测定方法 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 T/CIE 076-2020  工业级高可靠集成电路评价 第11部分:压力传感器 中国电子学会 2020-08-15 现行
 T/SZSIIIA 0001-2024  润滑油质量多参量综合在线检测传感器 深圳市传感器与智能化. 2024-05-22 现行
 T/CASAS 046-2024  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态反偏(DRB)试验方法 北京第三代半导体产业. 2024-11-19 现行
 GB/T 7247.4-2016  激光产品的安全 第4部分:激光防护屏 国家质量监督检验检疫. 2017-03-01 现行
 GB/T 28162.3-2011  自动操作用元器件的包装 第3部分:表面安装元器件在连续带上的包装 国家质量监督检验检疫. 2012-07-01 现行
 GB/T 31379-2015  平板显示器(FPD)偏光膜试验方法 国家质量监督检验检疫. 2015-10-01 现行
 GB/T 26599.1-2011  激光和激光相关设备 激光光束宽度、发散角和光束传输比的试验方法 第1部分:无像散和简单像散光束 国家质量监督检验检疫. 2011-11-01 现行
 GB/T 26870-2011  滤波器和并联电容器在受谐波影响的工业交流电网中的应用 国家质量监督检验检疫. 2011-12-01 现行
 T/CIE 265-2024  硅基无源光电器件电磁仿真规范 中国电子学会 2024-08-09 现行
 GB/T 10185-2012  电子设备用固定电容器 第7部分:分规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 T/CIE 143-2022  复杂组件封装关键结构寿命评价方法 中国电子学会 2023-01-31 现行
 GB/T 28858-2012  电子元器件用酚醛包封料 国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 T/CASAS 044-2024  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFETs)高压高温高湿反偏试验方法 北京第三代半导体产业. 2024-11-19 现行
 NB/T 41003-2011  标称电压1000V 及以下交流电力系统用自愈式并联电容器质量分等 国家能源局 2011-10-01 废止
 T/CIE 256-2024  大规模数字IC设计-原型验证系统通用规范 中国电子学会 2024-09-01 现行
 T/CASAS 047-2024  碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态高温高湿反偏(DH3TRB)试验方法 北京第三代半导体产业. 2024-11-19 现行
 T/CIE 093-2020  电子行业节能诊断技术规范 显示器件 中国电子学会 2021-05-01 现行
 GB/T 2693-2001  电子设备用固定电容器 第1部分:总规范 国家质量监督检验检疫. 2002-05-01 作废
 GB/T 29847-2025  印制板用铜箔测试方法 国家市场监督管理总局. 2025-10-01 即将实施
 T/SZSA 032-2024  SMD塑料载带技术规范 深圳市半导体产业发展. 2024-10-21 现行
 GB/T 19183.3-2003  电子设备机械结构 户外机壳 第2-1部分: 机柜尺寸 国家质量监督检验检疫. 2004-01-01 废止
 NB/T 41001-2011  电容式电压互感器产品质量分等 国家能源局 2011-10-01 废止
 T/CEPEA 0102-2023  化合物半导体器件刻蚀工艺静电卡盘 中国电子专用设备工业. 2024-03-15 现行
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