| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 11446.10-2013 |
电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.3-1997 |
电子级水测试方法通则 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.3-2013 |
电子级水测试方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.4-1997 |
电子级水电阻率的测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.4-2013 |
电子级水电阻率的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.5-1997 |
电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.5-2013 |
电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.6-1997 |
电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.6-2013 |
电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.7-1997 |
电子级水中痕量氯离子、硝酸根离子、磷酸根离子、硫酸根离子的离子色谱测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.7-2013 |
电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.8-1997 |
电子级水中总有机碳的测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.8-2013 |
电子级水中总有机碳的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.9-1997 |
电子级水中微粒的仪器测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.9-2013 |
电子级水中微粒的仪器测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11478-1989 |
摄象管总规范 |
信息产业部（电子）
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB/T 11479-1989 |
摄象管空白详细规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11480-1989 |
摄象管测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11482-1989 |
交流等离子体显示器件总规范 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11483-1989 |
交流等离子体显示器件测试方法 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11490-1989 |
彩色显象管管基尺寸 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB/T 11490-2011 |
彩色显像管管基尺寸 |
国家质量监督检验检疫.
|
2012-07-01 |
现行 |
| GB 11496.1-1989 |
彩色显示管用Y30-G1荧光粉 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11496.2-1989 |
彩色显示管用Y30-B1荧光粉 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB/T 11497.1-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HC系列的品种 |
信息产业部（电子）
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11497.2-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HCT系列的品种 |
信息产业部（电子）
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB 11498-1989 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) |
机械电子工业部
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11498-2018 |
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
|
2019-07-01 |
现行 |
| GB/T 11499-2001 |
半导体分立器件文字符号 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-06-01 |
现行 |
| GB 12078-1989 |
X射线管总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12078-2012 |
X 射线管总规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB 12079-1989 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12079-2012 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB 12082-1989 |
气体激光器文字符号 |
国家技术监督局
|
1990-07-01 |
现行 |
| GB 12083-1989 |
气体激光器电源系列 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12083-2012 |
气体激光器电源系列 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 12084-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74F系列的品种 |
国家技术监督局
|
1990-07-01 |
作废 |
| GB/T 12272-1990 |
射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法 |
国家技术监督局
|
1990-10-01 |
现行 |
| GB/T 12273-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 |
国家技术监督局
|
1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 12273.1-2017 |
有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2017-12-01 |
现行 |