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半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

国家标准
标准编号:DB52/T 1104-2016 标准状态:已废止
标准价格:0.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了具有单一热流路径的半导体器件结-壳热阻Rth(J-C)的瞬态测试方法。
本标准适用于具有单一热流路径的半导体器件。
英文名称:  Junction-to-case thermal resistance transient test method of semiconductor devices
标准状态:  已废止
什么是替代情况? 替代情况:  公告:贵州省市场监管局关于废止152项贵州省地方标准的公告
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
发布部门:  贵州省质量技术监督局
发布日期:  2016-04-01
实施日期:  2016-10-01
作废日期:  2019-12-04
提出单位:  贵州省机械电子产品质量监督检验院
什么是归口单位? 归口单位:  贵州省质量技术监督局
主管部门:  贵州省质量技术监督局
起草单位:  贵州省机械电子产品质量监督检验院、中国振华集团永光电子有限公司
起草人:  李明贵、禹忠、付悦、岳萍、刘德军、钟健思、曹珩、章俊华、林小文、邵建平、马静
出版日期:  2016-10-01
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前言
本标准按照GB/T 1.1-2009《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》给出的规则起草。
请注意:本标准的某些内容可能涉及专利内容,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准使用重新起草法修改采用JESD 51-14 2010《测量具有单一热流路径的半导体器件结壳热阻的瞬态双界面测试法》。
本标准与JESD 51-14 2010相比,在结构上增加了一章(4),删除了一章(7)。
本标准与JESD 51-14 2010的技术性差异及其原因如下:
——将JESD 51-14 2010第4.2.1瞬态双界面测量原理进行精简后,写入本标准5.4瞬态双界面测量中,以增加可操作性;
——删除了JESD 51-14 2010 第4.2.2温度控制散热器部分,以适应我国的技术条件;
——将JESD 51-14 2010第4.2部分定义的无/有导热硅脂与热油两种测试状态,重新定义为低/高导热两种测试状态,以适应我国的技术条件;
——根据JESD 51-14 2010测试原理,本标准增加了测试原理图、测试时序图,以增加可操作性;
——本标准对两条瞬态热阻抗曲线的分离点确认和结-壳热阻的计算只规定原理,不限制实现方法,以适应我国的技术条件。
本标准做了下列编辑性修改:
——将标准名称修改为《半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法》;
——将JESD 51-14 2010 第5章调整为本标准资料性附录A;
——关于规范性引用文件,调整如下:
删除了JESD 51-14 2010第2章[N1][N2][N3][N4][N5][N6][N7];
增加引用了GB/T 11499;
增加引用了GB/T 14862;
——删除了JESD 51-14 2010附录A、B、C、D。
本标准由贵州省机械电子产品质量监督检验院提出。
本标准由贵州省质量技术监督局归口。
本标准起草单位:贵州省机械电子产品质量监督检验院、中国振华集团永光电子有限公司。
本标准主要起草人:李明贵、禹忠、付悦、岳萍、刘德军、钟健思、曹珩、章俊华、林小文、邵建平、马静。
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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GB/T 14862 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
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