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英文名称: |
Test methods of safe operating area for power transistors |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
ICS分类: |
电子学>>半导体器件>>31.080.30三极管 |
UDC分类: |
621.382.33;621.317.3 |
采标情况: |
MIL STD 750B,REF |
发布部门: |
国家技术监督局 |
发布日期: |
1990-03-15 |
实施日期: |
1990-08-01
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首发日期: |
1990-03-15 |
复审日期: |
2004-10-14 |
归口单位: |
全国电力电子学标准化技术委员会 |
主管部门: |
中国电器工业协会 |
起草单位: |
北京无线电仪器厂 |
页数: |
5页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
出版日期: |
1990-08-01 |
标准前页: |
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