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半导体分立器件型号命名方法

国家标准
标准编号:GB/T 249-2017 标准状态:现行
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了半导体分立器件型号命名方法的组成原则、组成部分的符号及其意义。?
本标准适用于各种半导体分立器件。?
英文名称:  The rule of type designation for discrete semiconductor devices
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 249-1989
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2017-05-12
实施日期:  2017-12-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:  陈海蓉、崔波、李丽霞
页数:  8页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2017-05-31
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2017年第11号 [2017-05-18]

半导体分立器件综合相关标准 第1页 第2页 
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半导体器件综合相关标准 第1页 
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 GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾
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 GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照
 GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)
 GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度
 GB/T 4937.20-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
 GB/T 4937.201-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
 GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性
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