半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验 |
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| 标准编号：GB/T 45720-2025 |
标准状态：即将实施 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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| 标准状态： |
即将实施 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2025-05-30 |
| 实施日期： |
2025-09-01
即将实施 距离实施日期还有84天 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
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