工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> >> GB/T 45721.1-2025

半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验

国家标准
标准编号:GB/T 45721.1-2025 标准状态:即将实施
标准价格:54.0 客户评分:星星星星1
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本文件规定了一种恒温老化方法,该方法用于试验微电子晶圆上的铜(Cu)金属化测试结构对应力诱生空洞(SIV)的敏感性。该方法将主要在产品的晶圆级工艺开发过程中进行,其结果将用于寿命预测和失效分析。在某些情况下,该方法能应用于封装级试验。由于试验时间长,此方法不适用于产品批次性交付检查。
双大马士革铜金属化系统通常在蚀刻到介电层的沟槽的底部和侧面具有内衬,例如钽(Ta)或氮化钽(TaN)。因此,对于单个通孔接触下面宽线的结构,通孔下方空洞引起的阻值漂移达到失效判据规定的某一百分比时,将会瞬间导致开路失效。
英文名称:  Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1:Copper stress migration test
标准状态:  即将实施
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 62880-1:2017
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2025-05-30
实施日期:  2025-09-01  即将实施 距离实施日期还有64
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、河北北芯半导体科技有限公司、华南理工大学、杭州飞仕得科技股份有限公司、广东工业大学、广东气派科技有限公司、中绍宣标准科技集团有限公司
起草人:  黄云、肖庆中、高汭、韦覃如、成立业、雷登云、周振威、陈思、黄钦文、贾沛、赵海龙、姚若河、李军、万永康、虞勇坚、刘东月、陈勇、崔从俊
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
相关搜索: 半导体 器件  [ 评论 ][ 关闭 ]

半导体分立器件综合相关标准 第1页 第2页 
 GB/T 45719-2025 半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验
 GB/T 45722-2025 半导体器件 恒流电迁移试验
 GB/T 45716-2025 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
 DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法
 DB32/T 4894-2024 微机电系统半导体气体传感器性能检测方法
 DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
 GB 11499-1989 半导体分立器件文字符号
 GB/T 11499-2001 半导体分立器件文字符号
 GB 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法
 GB 12560-1990 半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
 免费下载半导体分立器件综合标准相关目录

半导体器件综合相关标准 第1页 
 GB/T 45720-2025 半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验
 GB/T 12560-1999 半导体器件 分立器件分规范
 GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
 GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
 GB/T 20521-2006 半导体器件 第14-1部分:半导体传感器-总则和分类
 GB/T 20522-2006 半导体器件 第14-3部分:半导体传感器-压力传感器
 GB/T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器
 GB/T 20870.2-2023 半导体器件 第16-2部分:微波集成电路 预分频器
 GB/T 20870.4-2024 半导体器件 第16-4部分:微波集成电路 开关
 GB/T 20870.5-2023 半导体器件 第16-5部分:微波集成电路 振荡器
 免费下载半导体器件综合标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验
baidu 中搜索:GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验
yahoo 中搜索:GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验
soso 中搜索:GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验
中搜索:GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved