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半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)

国家标准
标准编号:GB/T 4937.18-2018 标准状态:现行
标准价格:29.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
GB/T 4937的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行60?Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序。本部分提供了评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法。这种退火试验对低剂量率辐射或者器件在某些应用情况下表现出时变效应的应用情形是比较重要的。
本部分仅适用于稳态辐照,并不适用于脉冲型辐照。
本部分主要针对军事或空间相关的应用。
本试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化,因而被认为是破坏性试验。
英文名称:  Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18:Ionizing radiation(total dose)
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 60749-18:2002 IDT
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-09-17
实施日期:  2019-01-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
主管部门:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、西北核技术研究所
起草人:  席善斌、彭浩、郭旗、陆妩、陈伟、林东生、何宝平、金晓明、崔波、陈海蓉
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2018-09-01
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2018年第11号 [2018-09-27]

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