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英文名称: |
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices(internally induced) |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
ICS分类: |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
采标情况: |
IEC 60749-31:2002 |
发布部门: |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2023-05-23 |
实施日期: |
2023-12-01
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提出单位: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
归口单位: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
起草单位: |
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽钜芯半导体科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、山东省中智科标准化研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司 |
起草人: |
裴选、彭浩、张魁、曹孙根、席善斌、魏兵、赵鹏、徐昕、米村艳、李明钢、颜天宝 |
页数: |
8页 |
出版社: |
中国标准出版社 |