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半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

国家标准
标准编号:GB/T 4937.23-2023 标准状态:现行
标准价格:31.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了随时间的推移,偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作,主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。
英文名称:  Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 60749-23:2011
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2023-05-23
实施日期:  2023-12-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州信安电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、广东科信电子有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司
起草人:  冉红雷、张魁、张忠祥、黄杰、彭浩、魏兵、尹丽晶、徐昕、柯汉忠、颜天宝、刘银燕
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
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