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半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照

国家标准
标准编号:GB/T 4937.17-2018 标准状态:现行
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用,是一种破坏性试验。
试验目的如下:
a)〓检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系;
b)〓确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内(见第4章)。
英文名称:  Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17:Neutron irradiation
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 60749-17:2003 IDT
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-09-17
实施日期:  2019-01-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
主管部门:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子科技集团公司第十三研究所、西北核技术研究所、中国科学院新疆理化技术研究所
起草人:  席善斌、彭浩、陈伟、林东生、杨善潮、金晓明、郭旗、陆妩、崔波、陈海蓉
页数:  8页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2018-09-01
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