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英文名称: |
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17:Neutron irradiation |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
ICS分类: |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
采标情况: |
IEC 60749-17:2003 IDT |
发布部门: |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2018-09-17 |
实施日期: |
2019-01-01
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提出单位: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
归口单位: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
主管部门: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
起草单位: |
中国电子科技集团公司第十三研究所、西北核技术研究所、中国科学院新疆理化技术研究所 |
起草人: |
席善斌、彭浩、陈伟、林东生、杨善潮、金晓明、郭旗、陆妩、崔波、陈海蓉 |
页数: |
8页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
出版日期: |
2018-09-01 |