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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
SJ/Z 11360-2006
集成电路IP核信号完整性规范
2006-12-01
现行
SJ/Z 11361-2006
集成电路IP核保护大纲
2006-12-01
现行
SJ/Z 11362-2006
企业信息化技术规范 制造执行系统(MES)规范
2006-12-01
现行
SJ/T 11363-2006
电子信息产品中有毒有害物质的限量要求
信息产业
2006-11-06
废止
SJ/T 11364-2006
电子信息产品污染控制标识要求
信息产业部
2006-11-06
作废
SJ/T 11364-2014
电子电气产品有害物质限制使用标识要求
工业和信息化部
2014-11-01
现行
SJ/T 11365-2006
电子信息产品中有毒有害物质的检测方法
信息产业部
2006-11-06
废止
SJ/T 11368-2006
多声道数字音频编解码技术规范
信息产业部
2007-01-04
废止
SJ/T 11369-2007
电子玻璃技术数据
废止
SJ/T 11370-2007
计算机显示器用偏转磁心的尺寸
2008-01-20
废止
SJ/T 11371-2007
按能力批准程序评定质量的电子设I备用压电陶瓷变压器分规范
2008-01-20
现行
SJ/T 11372-2007
中文办公软件用户界面要求
2008-01-20
现行
SJ/T 11373-2007
软件构件管理 第l部分:管理信息模型
2008-01-20
现行
SJ/T 11374-2007
软件构件产品质量 第1部分:质量模型
2008-01-20
现行
SJ/T 11375-2007
软件构件产品质量 第2部分:质量度量
2008-01-20
现行
SJ/T 11376-2007
数字电视接收设备条件接受接口规范 第2-1部分:通用传送接口(UTI)技术规范
信息产业部
2008-01-26
现行
SJ/T 11377-2007
数字电视接收设备条件接受接口规范 第2-2部分:通用传送接口(UTI)测试规范
信息产业部
2008-01-26
现行
SJ/T 11378-2008
等离子体显示器件 第3-1部分:机械接口
现行
SJ/T 11378.6.1-2015
等离子体显示器件 第6-1部分:数字电视机用彩色等离子体显示器件详细规范
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11378.7-2015
等离子体显示器件 第7部分:数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11379-2008
等离子体显示器件 第4部分:气候和机械试验方法
现行
SJ/T 11380-2008
自动声纹识别(说话人识别)技术规范
现行
SJ/T 11381-2008
信息查询自助终端通用规范
2008-03-10
现行
SJ/T 11383-2008
泄漏电流测试仪通用规范
信息产业部
2008-03-10
现行
SJ/T 11384-2008
耐压测试仪通用规范
信息产业部
2008-03-10
现行
SJ/T 11385-2008
绝缘电阻测试仪通用规范
信息产业部
2008-03-10
现行
SJ/T 11386-2008
接地导通电阻测试仪通用规范
信息产业部
2008-03-10
现行
SJ/T 11387-2008
直播卫星电视接收系统及设备通用技术规范
共和国信息产业部
2008-12-01
现行
SJ/Z 11388-2009
电子信息产品环保使用期限通则
工业和信息化部
2010-01-01
现行
SJ/T 11389-2009
无铅焊接用助焊剂
工业和信息化部
2010-01-01
作废
SJ/T 11390-2009
无铅焊料试验方法
工业和信息化部
2010-01-01
作废
SJ/T 11391-2009
电子产品焊接用锡合金粉
工业和信息化部
2010-01-01
作废
SJ/T 11392-2009
无铅焊料 化学成分与形态
工业和信息化部
2010-01-01
作废
SJ/T 11393-2009
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
工业和信息化部
2010-01-01
现行
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
工业和信息化部
2010-01-01
现行
SJ/T 11395-2009
半导体照明术语
工业和信息化部
2010-01-01
现行
SJ/T 11396-2009
氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片
工业和信息化部
2010-01-01
废止
SJ/T 11397-2009
半导体发光二极管用萤光粉
工业和信息化部
2010-01-01
现行
SJ/T 11398-2009
功率半导体发光二极管芯片技术规范
工业和信息化部
2010-01-01
现行
SJ/T 11399-2009
半导体发光二极管芯片测试方法
工业和信息化部
2010-01-01
现行
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