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半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法

标准
标准编号:SJ 1267-1977 标准状态:已废止
标准价格:8.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
英文名称:  Thermal resistance measurements of sinks for semiconductor devices under natural air cooling conditions
标准状态:  已废止
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
发布日期:  1977-12-26
实施日期:  1978-01-01
作废日期:  2010-01-20
页数:  4页
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