半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法 |
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| 标准编号：SJ 1267-1977 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：8.0 元 |
客户评分：  |
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| 英文名称： |
Thermal resistance measurements of sinks for semiconductor devices under natural air cooling conditions |
| 标准状态： |
已废止 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
1977-12-26 |
| 实施日期： |
1978-01-01
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| 作废日期： |
2010-01-20
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| 页数： |
4页 |
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