工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> 国家标准(GB) >> GB/T 1552-1995

硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法

国家标准
标准编号:GB/T 1552-1995 标准状态:已作废
标准价格:13.0 客户评分:星星星星1
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本标准规定了用直排四探针测量硅、锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍的硅、锗单晶的体电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍的硅、锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。
英文名称:  Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB 1552-1979;GB 5251-1985;GB 6615-1986;被GB/T 1551-2009代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析
什么是UDC分类?  UDC分类:  669.7821.783;621.317.33
什么是采标情况? 采标情况:  NEQ ASTM F397-88
发布部门:  国家技术监督局
发布日期:  1995-04-18
实施日期:  1995-01-02
作废日期:  2010-06-01
首发日期:  1979-05-26
复审日期:  2004-10-14
提出单位:  中华人民共和国化学工业部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体材料和设备标准化技术委员会
主管部门:  国家标准化管理委员会
起草单位:  上海有色金属研究所
页数:  平装16开, 页数:17, 字数:29千字
出版社:  中国标准出版社
标准前页: 浏览标准前文  || 下载标准前页   
相关搜索: 测量  半导体材料 电阻率  [ 评论 ][ 关闭 ]
本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2009年第12号(总第152号) [2009-11-17]

金属物理性能试验方法相关标准 第1页 第2页 第3页 第4页 第5页 更多>> 
 GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
 GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
 GB 1555-1979 硅单晶晶向光图测量方法
 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
 GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法
 GB 1556-1979 硅单晶晶向X光衍射测量方法
 GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
 GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
 GB 1558-1983 测定硅晶体中代位碳含量的红外吸收方法
 GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法
 免费下载金属物理性能试验方法标准相关目录

金属材料化学分析相关标准 第1页 第2页 第3页 第4页 第5页 更多>> 
 GB/T 15679.2-1995 钐钴永磁合金粉化学分析方法 铁量的测定
 GB/T 15679.3-1995 钐钴永磁合金粉化学分析方法 钙量的测定
 GB/T 15679.4-1995 钐钴永磁合金粉化学分析方法 氧量的测定
 GB/T 15711-1995 钢材塔形发纹酸浸检验方法
 GB/T 15749-1995 定量金相手工测定方法
 GB/T 15749-2008 定量金相测定方法
 GB/T 16597-1996 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
 GB/T 16597-2019 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
 GB/T 17103-1997 金属材料定量极图的测定
 GB/T 17433-2014 冶金产品化学分析基础术语
 免费下载金属材料化学分析标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您可能还需要 更多
硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法..
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰..
非本征半导体材料导电类型测试方法..
硅多晶气氛区熔基磷检验方法
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法..
半导体材料术语 GB/T 14264-1993
硅多晶真空区熔基硼检验方法
硅片弯曲度测试方法
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
baidu 中搜索:GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
yahoo 中搜索:GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
soso 中搜索:GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
中搜索:GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved