硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 |
|
标准编号:GB/T 1552-1995 |
标准状态:已作废 |
|
标准价格:13.0 元 |
客户评分: |
|
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到! |
|
|
|
|
|
本标准规定了用直排四探针测量硅、锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍的硅、锗单晶的体电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍的硅、锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。 |
|
|
|
|
|
|
|
客服中心 |
有问题?找在线客服 |
|
|
|
|
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
必备软件下载 |
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具,通
过它可以查阅本站的标准文档 |
|
|
|
|