| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB 5592-1985 |
电子器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法 |
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5593-1985 |
电子器件结构陶瓷材料 |
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5593-1996 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家技术监督局
|
1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 5593-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.1-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.2-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.3-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.3-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.4-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.4-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.5-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1986-01-02 |
现行 |
| GB 5594.6-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.6-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.7-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.7-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.8-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5594.8-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10760-1996 |
电子器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法 |
|
1997-01-01 |
现行 |