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 共找到17条相关标准,现行8,作废8,未实施1,耗时0.121秒
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 17472-2008  微电子技术用贵金属浆料规范 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 现行
 GB/T 17472-2022  微电子技术用贵金属浆料规范 国家市场监督管理总局. 2023-05-01 即将实施
 GB/T 17473.1-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.1-2008  微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 现行
 GB/T 17473.2-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.2-2008  微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 现行
 GB/T 17473.3-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.3-2008  微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 现行
 GB/T 17473.4-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.4-2008  微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 现行
 GB/T 17473.5-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.5-2008  微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 现行
 GB/T 17473.6-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.6-2008  微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 现行
 GB/T 17473.7-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.7-2008  微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定 国家质量监督检验检疫. 2008-09-01 作废
 GB/T 17473.7-2022  微电子技术用贵金属浆料测试方法 第7部分:可焊性、耐焊性测定 国家市场监督管理总局. 2022-10-01 现行
 共有17条符合状态条件的标准,共1页 现行 即将实施 作废 废止 
 
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