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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> H冶金 >> H20/29 金属理化性能试验方法 >> H21金属物理性能试验方法
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 8754-1988  铝及铝合金阳极氧化-应用击穿电位测定法检验绝缘性 国家标准局 1989-02-01 作废
 GB/T 8757-1988  砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法 国家标准局 1989-02-01 作废
 GB/T 8757-2006  砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 国家质量监督检验检疫. 2006-11-01 现行
 GB/T 8758-1988  砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 国家标准局 1989-02-01 作废
 GB/T 8758-2006  砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 国家质量监督检验检疫. 2006-11-01 现行
 GB/T 8759-1988  化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 1989-07-01 作废
 GB/T 8760-2020  砷化镓单晶位错密度的测试方法 国家市场监督管理总局. 2021-08-01 现行
 GB 8763-1988  非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 国家标准局 1989-02-01 作废
 GB/T 8763-2020  非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 国家市场监督管理总局. 2021-04-01 现行
 JB/T 7131-2002  热双金属横向弯曲试验方法 国家经济贸易委员会 2003-04-01 现行
 JB/T 7900-1995  高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法 上海电器所 1996-04-14 作废
 SN/T 2082-2008  冷轧薄钢板洛氏硬度(HRB)试验方法 国家质量监督检验检疫. 2008-11-01 废止
 YB/T 130-1997  钢的等温转变曲线图的测定 1997-12-01 现行
 YB/T 4148-2006  电工钢片(带)小单片试样磁性能测量方法 2006-11-01 现行
 YB/T 5320-2006  金属材料定量相分析 X射线衍射K值法 2006-10-11 现行
 YB/T 5321-2006  膨胀合金气密性试验方法 2006-10-11 现行
 YB/T 5336-2006  高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法 2006-10-11 现行
 YB/T 5337-2006  金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法 2006-10-11 现行
 YB/T 5338-2006  钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法 2006-10-11 作废
 YB/T 5350-2006  金属材料高温弹性模量测量方法 圆盘振子法 2006-10-11 现行
 YB/T 5360-2006  金属材料定量极图的测定 2006-10-11 作废
 YB 799-1971  电阻温度系数测试方法 1993-07-01 废止
 YB 929-1978  纯铂丝电阻比W(100℃)测量方法 1998-05-01 作废
 YB 930-1978  贵金属及其合金材料对铜热电势测量方法 1998-05-01 作废
 YB 933-1978  热偶丝材热电势的测量方法--熔丝法 1998-05-01 作废
 YB 936-1978  金属与合金灵敏系数的测量方法 1998-05-01 作废
 YS/T 1002-2014  铝电解阳极效应系数和效应持续时间的计算方法 工业和信息化部 2015-04-01 现行
 YS/T 1065.1-2015  沸石物理性能测定方法 第1部分:钙交换能力的测定 EDTA滴定法 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 YS/T 1065.2-2015  沸石物理性能测定方法 第2部分:粒度的测定 离心沉降法 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 YS/T 1065.4-2015  沸石物理性能测定方法 第4部分:非离子液体携带能力(L.C.C)的测定 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 YS/T 1124-2016  磁性溅射靶材透磁率测试方法 工业和信息化部 2017-01-01 现行
 YS/T 1161.1-2016  拟薄水铝石分析方法 第1部分:胶溶指数的测定 EDTA容量法 工业和信息化部 2017-01-01 现行
 YS/T 1161.2-2016  拟薄水铝石分析方法 第2部分:烧失量的测定 重量法 工业和信息化部 2017-01-01 现行
 YS/T 1161.3-2016  拟薄水铝石分析方法 第3部分:孔容和比表面积的测定 氮吸附法 工业和信息化部 2017-01-01 现行
 YS/T 1166-2016  高纯四氯化锗红外透过率的测定方法 工业和信息化部 2017-01-01 现行
 YS/T 15-2015  硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 YS/T 23-2016  硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法 工业和信息化部 2016-09-01 现行
 YS/T 24-2016  外延钉缺陷的检验方法 工业和信息化部 2016-09-01 现行
 YS/T 26-2016  硅片边缘轮廓检验方法 工业和信息化部 2017-01-01 现行
 YS/T 27-1992  晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法 1993-01-01 废止
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