标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 8757-1988 |
砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8757-2006 |
砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
GB/T 8758-1988 |
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8758-2006 |
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
GB/T 8759-1988 |
化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 |
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1989-07-01 |
作废 |
GB/T 8760-2020 |
砷化镓单晶位错密度的测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-08-01 |
现行 |
GB 8763-1988 |
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8763-2020 |
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-04-01 |
现行 |
JB/T 7131-2002 |
热双金属横向弯曲试验方法 |
国家经济贸易委员会
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2003-04-01 |
现行 |
JB/T 7900-1995 |
高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法 |
上海电器所
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1996-04-14 |
作废 |
SN/T 2082-2008 |
冷轧薄钢板洛氏硬度(HRB)试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
废止 |
YB/T 130-1997 |
钢的等温转变曲线图的测定 |
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1997-12-01 |
现行 |
YB/T 4148-2006 |
电工钢片(带)小单片试样磁性能测量方法 |
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2006-11-01 |
现行 |
YB/T 5320-2006 |
金属材料定量相分析 X射线衍射K值法 |
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2006-10-11 |
现行 |
YB/T 5321-2006 |
膨胀合金气密性试验方法 |
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2006-10-11 |
现行 |
YB/T 5336-2006 |
高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法 |
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2006-10-11 |
现行 |
YB/T 5337-2006 |
金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法 |
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2006-10-11 |
现行 |
YB/T 5338-2006 |
钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法 |
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2006-10-11 |
作废 |
YB/T 5350-2006 |
金属材料高温弹性模量测量方法 圆盘振子法 |
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2006-10-11 |
现行 |
YB/T 5360-2006 |
金属材料定量极图的测定 |
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2006-10-11 |
作废 |
YB 799-1971 |
电阻温度系数测试方法 |
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1993-07-01 |
废止 |
YB 929-1978 |
纯铂丝电阻比W(100℃)测量方法 |
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1998-05-01 |
作废 |
YB 930-1978 |
贵金属及其合金材料对铜热电势测量方法 |
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1998-05-01 |
作废 |
YB 933-1978 |
热偶丝材热电势的测量方法--熔丝法 |
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1998-05-01 |
作废 |
YB 936-1978 |
金属与合金灵敏系数的测量方法 |
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1998-05-01 |
作废 |
YS/T 1002-2014 |
铝电解阳极效应系数和效应持续时间的计算方法 |
工业和信息化部
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2015-04-01 |
现行 |
YS/T 1065.1-2015 |
沸石物理性能测定方法 第1部分:钙交换能力的测定 EDTA滴定法 |
工业和信息化部
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2015-10-01 |
现行 |
YS/T 1065.2-2015 |
沸石物理性能测定方法 第2部分:粒度的测定 离心沉降法 |
工业和信息化部
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2015-10-01 |
现行 |
YS/T 1065.4-2015 |
沸石物理性能测定方法 第4部分:非离子液体携带能力(L.C.C)的测定 |
工业和信息化部
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2015-10-01 |
现行 |
YS/T 1124-2016 |
磁性溅射靶材透磁率测试方法 |
工业和信息化部
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2017-01-01 |
现行 |
YS/T 1161.1-2016 |
拟薄水铝石分析方法 第1部分:胶溶指数的测定 EDTA容量法 |
工业和信息化部
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2017-01-01 |
现行 |
YS/T 1161.2-2016 |
拟薄水铝石分析方法 第2部分:烧失量的测定 重量法 |
工业和信息化部
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2017-01-01 |
现行 |
YS/T 1161.3-2016 |
拟薄水铝石分析方法 第3部分:孔容和比表面积的测定 氮吸附法 |
工业和信息化部
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2017-01-01 |
现行 |
YS/T 1166-2016 |
高纯四氯化锗红外透过率的测定方法 |
工业和信息化部
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2017-01-01 |
现行 |
YS/T 15-2015 |
硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法 |
工业和信息化部
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2015-10-01 |
现行 |
YS/T 23-2016 |
硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法 |
工业和信息化部
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2016-09-01 |
现行 |
YS/T 24-2016 |
外延钉缺陷的检验方法 |
工业和信息化部
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2016-09-01 |
现行 |
YS/T 26-2016 |
硅片边缘轮廓检验方法 |
工业和信息化部
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2017-01-01 |
现行 |
YS/T 27-1992 |
晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法 |
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1993-01-01 |
废止 |
YS/T 273.1-2006 |
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第1部分: 重量法测定湿存水含量 |
国家发展和改革委员会
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2006-12-01 |
作废 |