| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ 50597/55-2002 |
半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器详细规范 |
信息产业部
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2002-05-01 |
现行 |
| SJ 50597/56-2002 |
半导体集成电路JW920型PIN驱动器详细规范 |
信息产业部
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2002-05-01 |
现行 |
| SJ 50597/57-2003 |
半导体集成电路 JW584/JW584A型可编程电压基准详细规范 |
信息产业部
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2003-12-01 |
现行 |
| SJ 50597/58-2003 |
半导体集成电路 JB726型限幅放大鉴频器详细规范 |
信息产业部
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2003-12-01 |
现行 |
| SJ 50597/59-2003 |
半导体集成电路 JB523型宽带对数放大器详细规范 |
信息产业部
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2003-12-01 |
现行 |
| SJ 50597/60-2004 |
半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范 |
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 50597/61-2005 |
半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范 |
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2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50597/62-2006 |
半导体集成电路JF1558、JF1558A型通用双运算放大器详细规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 50597/63-2006 |
半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 51420/3-2003 |
半导体集成电路陶瓷针栅阵列外壳详细规范 |
信息产业部
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2003-12-01 |
现行 |
| SJ/Z 9015.2-1987 |
集成电路半导体器件 第2部分:数字集成电路 |
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1987-09-14 |
废止 |
| T/CIE 067-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第1部分：AC/DC电路 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 068-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第2部分：DC/DC变换器 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 069-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第3部分：功率放大器 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 070-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第4部分：非易失性存储器 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 071-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第6部分：蓝牙芯片 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 072-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第7部分：AD和DA转换器 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 073-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第8部分：微控制器（MCU） |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 074-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第9部分：电表用微控制器(MCU) |
中国电子学会
|
2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 075-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第10部分：温度传感器 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 076-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第11部分：压力传感器 |
中国电子学会
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现行 |
| T/CIE 077-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第12部分：倾角传感器 |
中国电子学会
|
2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 079-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第14部分：图像传感器 |
中国电子学会
|
2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 080-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第15部分：超高频射频识别 |
中国电子学会
|
2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 081-2020 |
工业级高可靠集成电路评价 第16部分：高频射频识别 |
中国电子学会
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2020-08-15 |
现行 |
| T/CIE 133-2022 |
磁随机存储器件数据保持时间测试方法 |
中国电子学会
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2022-08-10 |
现行 |
| T/CIE 134-2022 |
磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 |
中国电子学会
|
2022-08-10 |
现行 |
| T/CIE 151-2022 |
现场可编程门阵列（FPGA）芯片动态老化试验方法 |
中国电子学会
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2023-01-31 |
现行 |
| T/CIE 155-2023 |
非易失性相变存储器电性能测试方法 |
中国电子学会
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2023-03-20 |
现行 |
| ZB L 56001-1989 |
电子器件产品规范 光栅数显专用集成电路SJ227 |
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1990-01-01 |
作废 |
| ZB L 56002-1989 |
电子器件产品规范 光栅数显专及集成电路SJ225 |
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1990-01-01 |
作废 |
| ZB L 56003-1989 |
电子器件产品规范 仪器仪表专用集成电路SJ040 |
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1990-01-01 |
作废 |
| ZB L 56004-1989 |
电子器件产品规范 光栅数显专用集成电路SJ221 |
|
1990-01-01 |
作废 |