1 ICS国际标准分类[17.180.01光学和光学测量综合]-工标网
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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> ICS分类 >> 计量学和测量、物理现象 >> 光学和光学测量 >>17.180.01 光学和光学测量综合
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 1224-1999  几何光学术语、符号 国家质量技术监督局 2000-05-01 作废
 GB/T 1224-2016  几何光学术语、符号 国家质量监督检验检疫. 2017-03-01 现行
 GB/T 13742-2009  光学传递函数测量准确度 国家质量监督检验检疫. 2009-12-01 现行
 GB/T 16601-1996  光学表面激光损伤阈值测试方法 第1部分:1对1测试 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 16863-1997  晶体折射率的试验方法 国家技术监督局 1997-12-01 现行
 GB/T 16864-1997  低温下晶体透射率的试验方法 国家技术监督局 1997-12-01 现行
 GB/Z 21738-2008  一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 国家质量监督检验检疫. 2008-11-01 现行
 GB/T 26598-2011  光学仪器用透明导电薄膜规范 国家质量监督检验检疫. 2011-11-01 现行
 GB/T 26828-2011  多光谱减反射膜规范 国家质量监督检验检疫. 2011-12-01 现行
 GB/T 26829-2011  脉冲激光测距仪 测距参数的室内测试方法 国家质量监督检验检疫. 2011-12-01 现行
 GB/T 30543-2014  纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法 国家质量监督检验检疫. 2014-11-01 现行
 GB/T 31010-2014  色散型高光谱遥感器实验室光谱定标 国家质量监督检验检疫. 2015-02-01 现行
 GB/T 31010-2014E  色散型高光谱遥感器实验室光谱定标 国家质量监督检验检疫. 2015-02-01 现行
 GB/T 34831-2017  纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 34831-2017E  纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法(英文版) 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 40293-2021  红外硫系光学薄膜折射率测试方法 国家市场监督管理总局. 2022-03-01 现行
 GB/T 42208-2022  纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行
 GB/Z 43082-2023  月球与行星原位探测相机通用规范 国家市场监督管理总局. 2023-11-27 现行
 GB 5699-1985  采光测量方法 国家标准局 1986-09-01 作废
 JB/T 8237-1999  直角棱镜 全国光学和光学仪器标. 2000-01-01 现行
 JB/T 8238-1999  光学仪器用齿纹 国家机械工业局 2000-01-01 废止
 JB/T 8240-1999  光学仪器用目镜螺纹 国家机械工业局 2000-01-01 废止
 JB/T 9311-1999  光学仪器 产品型号命名方法 国家机械工业局 2000-01-01 废止
 JB/T 9330-1999  光学仪器用可变光阑片基本参数 国家机械工业局 2000-01-01 废止
 JB/T 9333-1999  显微镜光学显微术通用浸油 国家机械工业局 2000-01-01 现行
 JB/T 9334-1999  显微镜 光谱滤光片基本规格 2000-01-01 废止
 找到26条相关标准,共1页 现行 即将实施 作废 废止 
 
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 17.180.01 光学和光学测量综合[13] 17.180.20 颜色和光的测量[51] 17.180.30 光学测量仪器[90]
 17.180.99 有关光学和光学测量的其他标准[6]    
 
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