| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB 8744-1988 |
铝电解用半石墨阴极炭块 |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8745-2001 |
纺织品 燃烧性能 织物表面燃烧时间的测定 |
国家质量技术监督局
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2001-09-01 |
现行 |
| GB/T 8746-1988 |
纺织织物燃烧性能垂直向试样易点燃性的测定 |
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2001-09-01 |
作废 |
| GB/T 8746-2001 |
纺织品 燃烧性能 垂直方向试样易燃点性的测定 |
国家质量技术监督局
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2001-09-01 |
作废 |
| GB/T 8746-2009 |
纺织品 燃烧性能 垂直方向试样易点燃性的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
现行 |
| GB/T 8747-1988 |
气象用玻璃液体温度表 |
中国机械工业联合会
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1989-01-01 |
作废 |
| GB 8748-1988 |
电镀铅锡合金钢带 |
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1989-01-01 |
作废 |
| GB/T 8749-1988 |
优质碳素结构钢热轧钢带 |
国家标准局
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1989-07-01 |
作废 |
| GB/T 8749-2008 |
优质碳素结构钢热轧钢带 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
作废 |
| GB 875-1986 |
偏平头半空心铆钉 |
国家标准局
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1987-06-01 |
现行 |
| GB 8750-1988 |
半导体器件键合用金丝 |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8750-1997 |
半导体器件键合金丝 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 8750-2007 |
半导体器件键合用金丝 |
国家质量监督检验检疫.
|
2008-06-01 |
作废 |
| GB/T 8750-2014 |
半导体封装用键合金丝 |
国家质量监督检验检疫.
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2015-02-01 |
作废 |
| GB/T 8751-1988 |
钐铕钆富集物 |
国家发展和改革委员.
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8752-1988 |
铝及铝合金阳极氧化-薄阳极氧化膜连续性的检验-硫酸铜试验 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8752-2006 |
铝及铝合金阳极氧化 薄阳极氧化膜连续性检验方法 硫酸铜法 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-02-01 |
现行 |
| GB/T 8753-1988 |
铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜封闭后吸附能力的损失评定 酸处理后的染色斑点试验 |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8753.1-2005 |
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第1部分：无硝酸预浸的磷铬酸法 |
国家质量监督检验检验.
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2005-12-01 |
作废 |
| GB/T 8753.2-2005 |
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分：硝酸预浸的磷铬酸法 |
国家质量监督检验检验.
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2005-12-01 |
作废 |
| GB/T 8753.3-2005 |
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第3部分：导纳法 |
国家质量监督检验检疫.
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2005-12-01 |
现行 |
| GB/T 8753.4-2005 |
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第4部分：酸处理后的染色斑点法 |
国家质量监督检验检验.
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2005-12-01 |
现行 |
| GB/T 8754-1988 |
铝及铝合金阳极氧化-应用击穿电位测定法检验绝缘性 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8754-2006 |
铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜绝缘性的测定 击穿电位法 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-02-01 |
作废 |
| GB 8755-1988 |
钛及钛合金术语金相图谱 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
| GB 8756-1988 |
锗晶体缺陷图谱 |
国家标准局
|
1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8757-1988 |
砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家标准局
|
1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8757-2006 |
砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 8758-1988 |
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8758-2006 |
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 8759-1988 |
化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 |
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1989-07-01 |
作废 |
| GB 876-1986 |
空心铆钉 |
国家标准局
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1987-06-01 |
现行 |
| GB/T 8760-1988 |
砷化镓单晶位错密度的测量方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8760-2006 |
砷化镓单晶位错密度的测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
作废 |
| GB/T 8761-1988 |
氧化钇、氧化铕粒度分布测定光透沉降法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8762.1-1988 |
荧光级氧化钇和氧化铕中稀土氧化物总量测定 乙二胺四乙酸二钠容量法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8762.2-1988 |
荧光级氧化钇和氧化铕中氧化钙量测定 一氧化二氮-乙炔火焰原子吸收分光光度法 |
1989-02-01
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8762.3-1988 |
荧光级氧化钇中酸溶性二氧化硅量测定 钼蓝分光光度法 |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8762.4-1988 |
荧光级氧化钇中氧化铁、氧化铅、氧化镍和氧化铜量测定 发射光谱法 |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 8762.5-1988 |
荧光级氧化钇中微量稀土氧化物测定 化学光谱和直接光谱法 |
国家标准局
|
1989-02-01 |
作废 |