| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ/T 10867-1996 |
盘封管电性能测试方法 谐振腔无载品质因数Ｑ的测试方法 |
|
1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10868-1996 |
盘封管电性能测试方法 自中和频率的测试方法 |
|
1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10869-1996 |
盘封管电性能测试方法 功率增益的测试方法 |
|
1997-01-01 |
现行 |
| SJ/Z 1087-1976 |
镀锡溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
|
1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10870-1996 |
盘封管电性能测试方法 调幅调相转换系数的测试方法 |
|
1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10871-1996 |
盘封管电性能测试方法 三音互调失真的测试方法 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10872-1996 |
电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 ＲＪ１５型金属膜固定电阻器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10872-2000 |
电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E |
信息产业部
|
2000-10-01 |
现行 |
| SJ/T 10873-1996 |
电子器件详细规范 ＣＬ２０型金属化聚酯膜介质直流固定电容器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10874-1996 |
电子器件详细规范 ＣＬ２１型金属化聚酯膜介质直流固定电容器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10875-1996 |
电子器件详细规范 ＣＣ５２型圆片穿心瓷介电容器（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10876-1996 |
电子器件详细规范 ＣＴ５２型圆片穿心瓷介电容器（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10877-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＦ７４１型运算放大器（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10878-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＷ７２３型多端可调稳压器（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10879-1996 |
半导体集成音响电路音频前置放大器测试方法的基本原理 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1088-1976 |
氧化镀银溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
|
1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10880-1996 |
半导体集成音响电路立体声解码器测试方法的基本原理 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10881-1996 |
半导体集成音响电路电平指示驱动器测试方法的基本原理 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10882-1996 |
半导体集成电路线性放大器测试方法的基本原理 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10883-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＤＡ７５２０型１０位数／模转换器（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10884-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１３１型ＥＣＬ双主从Ｄ触发器（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10885-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＡ１５０Ｂ、３ＤＡ１５０Ｃ型高频放大管壳额定双极型晶体管（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10886-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＤ２０１型低频放大管壳额定双极型晶体管（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10887-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＤ１０２Ｂ型低频放大管壳额定的双极型晶体管（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10888-1996 |
盒式磁带录音机磁头型号命名方法 |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10889-1996 |
ＣＫＴＢ４００／７．５／６０型可变陶瓷真空电容器 |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/Z 1089-1976 |
镀金溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
|
1977-01-01 |
现行 |
| SJ/Z 1089-76 |
镀金溶液典型分析方法 |
|
1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10890-1996 |
阴极射线管有效屏面缺陷规范 |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10890-2003 |
阴极射线管有效屏面缺陷规范 |
信息产业部
|
2003-10-01 |
现行 |
| SJ/T 10891-1996 |
阴极射线管玻壳检验规范 |
|
1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10891-2003 |
阴极射线管玻壳检验规范 |
|
2003-10-01 |
现行 |
| SJ/T 10892-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＮ３１Ｄ型硅开关整流二极管（可供认证用） |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10893-1996 |
电子玻璃化学分析方法总则 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10894-1996 |
电子玻璃中氧化锂、氧化钠和氧化钾的原子吸收分析 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10895-1996 |
电子玻璃中氧化钙、氧化锶、氧化钡、氧化镁的原子吸收分析 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10896-1996 |
电子玻璃中氧化锌、氧化铅、氧化铝和氧化锑的原子吸收分析 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10897-1996 |
电子玻璃中氧化钴、氧化镍和二氧化锰的原子吸收分析 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10898-1996 |
电子玻璃中氧化铁和二氧化钛的分光光度分析 |
|
1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10899-1996 |
电子玻璃中二氧化锆的分析 |
|
1997-01-01 |
废止 |