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英文名称: |
Reliability enhancement test of semiconductor devices |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性 |
ICS分类: |
电子学>>31.020电子元件综合 |
发布部门: |
中国电子学会 |
发布日期: |
2022-12-31 |
实施日期: |
2023-01-31
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提出单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
归口单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
起草单位: |
工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院 |
起草人: |
杨少华、颜佳辉、薛海红、牛皓、刘昌、王铁羊、吕宏峰、来萍、许少辉、赖灿雄、陈希宇、廖文渊、柳月波 |
页数: |
20页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
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