|
英文名称: |
Dynamic aging test method of field programmable gate array(FPGA) |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
ICS分类: |
电子学>>31.020电子元件综合 |
发布部门: |
中国电子学会 |
发布日期: |
2022-12-31 |
实施日期: |
2023-01-31
|
提出单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
归口单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
起草单位: |
工业和信息化部电子第五研究所、深圳市紫光同创电子有限公司、成都华微电子科技股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、上海安路信息科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第772研究所、上海复旦微电子集团股份有限公司 |
起草人: |
余永涛、罗军、王小强、廖步彪、刘建明、周奇、袁智皓、朱晴、张帆、周军 |
页数: |
16页 |
出版社: |
中国标准出版社 |