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英文名称: |
Timing reliability test specification of field programmable gate array(FPGA) |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性 |
ICS分类: |
电子学>>31.020电子元件综合 |
发布部门: |
中国电子学会 |
发布日期: |
2022-12-31 |
实施日期: |
2023-01-31
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提出单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
归口单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
起草单位: |
工业和信息化部电子第五研究所、黄河科技学院、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司、成都华微电子科技股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、上海安路信息科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、中国航天科技集团第九研究院第772研究所等 |
起草人: |
雷登云、余永涛、杨东、曲晨冰、孙宸、夏益民、王力纬、侯波、来萍、张洋洋、郭海松、刘远、廖步彪、冯成燕、周奇、袁智皓、唐伟东、王文锋、俞剑 |
页数: |
12页 |
出版社: |
中国标准出版社 |