标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 45235-2025 |
电子电气产品中双酚A的测定 高效液相色谱法 |
国家市场监督管理总局.
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2025-08-01 |
即将实施 |
SN/T 5297-2021 |
电子电气产品聚合物材料中六溴环十二烷的测定 裂解-气相色谱-质谱定性筛选法 |
海关总署
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2022-01-01 |
现行 |
SN/T 5492-2023 |
电子电气产品聚合物材料中多溴联苯、多溴二苯醚的测定 裂解-气相色谱-质谱定性筛选法 |
海关总署
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2023-12-01 |
现行 |
DL/T 2343.1-2021 |
电能计量设备用元器件技术规范 第1部分:总则 |
国家能源局
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2022-03-22 |
现行 |
DL/T 2343.2-2021 |
电能计量设备用元器件技术规范 第2部分:液晶显示器 |
国家能源局
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2022-03-22 |
现行 |
GB 11113-1989 |
人造石英晶体中杂质的分析方法 |
机械电子工业部
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1990-03-01 |
废止 |
GB 11114-1989 |
人造石英晶体位错X射线形貌检测方法 |
机械电子工业部
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1990-03-01 |
废止 |
GB 11296-1989 |
红外探测材料型号命名方法 |
机械电子工业部
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1990-01-01 |
现行 |
GB/T 11297.1-1989 |
激光棒波前畸变的测量方法 |
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1990-01-01 |
作废 |
GB 11297.10-1989 |
热释电材料居里温度Tc的测试方法 |
机械电子工业部
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1990-01-01 |
作废 |
GB/T 11297.10-2015 |
热释电材料居里温度Tc的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-07-01 |
现行 |
GB 11297.11-1989 |
热释电材料介电常数的测试方法 |
机械电子工业部
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1990-01-01 |
作废 |
GB/T 11297.11-2015 |
热释电材料介电常数的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-07-01 |
现行 |
GB 11297.12-1989 |
电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法 |
机械电子工业部
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1990-01-01 |
作废 |
GB/T 11297.8-2015 |
热释电材料热释电系数的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-07-01 |
现行 |
GB/T 11297.9-2015 |
热释电材料介质损耗角正切tanδ的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-07-01 |
现行 |
GB/T 12273-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
GB/T 13415-1992 |
射频混频器总规范 |
国家技术监督局
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1992-01-02 |
作废 |
GB/T 13583-1992 |
红外探测器外形尺寸系列 |
国家技术监督局
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1993-05-01 |
现行 |
GB/T 13584-1992 |
红外探测器参数测试方法 |
国家技术监督局
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1993-05-01 |
作废 |
GB/T 13947-1992 |
电子元器件塑料封装设备 通用技术条件 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 13965-1992 |
仪表元器件术语 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14120-1993 |
单孔轴套安装、轴控电子元件的安装尺寸 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14278-1993 |
电子设备热设计术语 |
国家技术监督局
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1993-01-01 |
作废 |
GB/T 15286-1994 |
端接件总规范 |
国家技术监督局
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1995-07-01 |
现行 |
GB/T 15430-1995 |
红外探测器环境试验方法 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
GB/T 15647-1995 |
稳态可用性验证试验方法 |
国家技术监督局
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1996-03-01 |
现行 |
GB/T 15652-1995 |
金属氧化物半导体气敏元件总规范 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
现行 |
GB/T 15653-1995 |
金属氧化物半导体气敏元件测试方法 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
现行 |
GB/T 15768-1995 |
电容式湿敏元件与湿度传感器总规范 |
国家技术监督局
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1996-08-01 |
现行 |
GB/T 16512-1996 |
抑制射频干扰固定电感器 第1部分 总规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
GB/T 16513-1996 |
抑制射频干扰固定电感器 第2部分 分规范 试验方法和一般要求的选择 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
GB/T 16516-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准 |
国家技术监督局
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1996-05-01 |
现行 |
GB/T 16517-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
GB/T 16822-1997 |
介电晶体介电性能的试验方法 |
国家技术监督局
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1998-02-01 |
现行 |
GB/T 16879-1997 |
掩模曝光系统精密度和准确度的表示准则 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
GB/T 16880-1997 |
光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
GB/T 17564.1-2005 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第1部分:定义——原则和方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-04-01 |
作废 |
GB/T 17564.2-2005 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第2部分:EXPRESS字典模式 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-04-01 |
作废 |
GB/T 17564.4-2001 |
电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式 第4部分:IEC标准数据元素类型、元器件类别和项的基准集 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
作废 |