GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法国家标准(GB)-工标网

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标准简介

本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试，其他气敏件亦可参照使用。


英文名称：	Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
中标分类：	电子元器件与信息技术>>电子元件>>L15敏感元器件及传感器
ICS分类：	电子学>>31.020电子元件综合
UDC分类：	621.383;621.317.3
发布部门：	国家技术监督局
发布日期：	1995-07-24
实施日期：	1996-04-01
首发日期：	1995-07-24
复审日期：	2004-10-14
归口单位：	信息产业部（电子）
主管部门：	信息产业部（电子）
起草单位：	电子工业部标准化研究所
页数：	平装16开，页数：12，字数：19千字
出版社：	中国标准出版社
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