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氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

国家标准
标准编号:GB/T 47081-2026 标准状态:即将实施
标准价格:33.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的电感耦合等离子体发射光谱测定方法。
本文件适用于氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定,测定范围为0.001mg/g~4.00mg/g。
英文名称:  Determination of iron,aluminum and calcium of silicon nitride powder—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
标准状态:  即将实施
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>77.040金属材料试验
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2026-01-28
实施日期:  2026-08-01  即将实施 距离实施日期还有103
提出单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
主管部门:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员
起草单位:  新疆新特新能材料检测中心有限公司、四川永祥新能源有限公司、山东中临半导体新材料有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、青海南玻新能源科技有限公司、国标(北京)检验认证有限公司、松山湖材料实验室等
起草人:  邱艳梅、刘国霞、李冰清、李兰兰、贾琳、李锦春、刘红亮、曹俊英、王春明、赵培芝、李强、陈彩霞、钟海炎、胡伟
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
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