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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> H冶金 >> H10/19 金属化学分析方法 >> H17半金属及半导体材料分析方法
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 11073-2007  硅片径向电阻率变化的测量方法 国家质量监督检验检疫. 2008-02-01 现行
 GB/T 14849.1-2020  工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定 国家市场监督管理总局. 2021-02-01 现行
 GB/T 14849.3-2020  工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定 国家市场监督管理总局. 2021-02-01 现行
 GB/T 14849.4-2008  工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定素含量 国家质量监督检验检疫. 2008-12-01 作废
 GB/T 1557-2018  硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行
 GB/T 17170-2015  半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法 国家质量监督检验检疫. 2016-07-01 现行
 GB/T 19199-2015  半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 国家质量监督检验检疫. 2016-07-01 现行
 GB/T 19921-2005  硅抛光片表面颗粒测试方法 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 作废
 GB/T 19922-2005  硅片局部平整度非接触式标准测试方法 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 现行
 GB/T 24578-2015  硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行
 GB/T 24581-2022  硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 国家市场监督管理总局. 2022-10-01 现行
 GB/T 26067-2010  硅片切口尺寸测试方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 26070-2010  化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 26074-2010  锗单晶电阻率直流四探针测量方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 32277-2015  硅的仪器中子活化分析测试方法 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行
 GB/T 32281-2015  太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行
 GB/T 35306-2017  硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 国家质量监督检验检疫. 2018-07-01 现行
 GB/T 35309-2017  用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程 国家质量监督检验检疫. 2018-07-01 现行
 GB/T 37211.1-2018  金属锗化学分析方法 第1部分:砷含量的测定 砷斑法 国家市场监督管理总局. 2019-11-01 现行
 GB/T 37211.2-2018  金属锗化学分析方法 第2部分:铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 国家市场监督管理总局. 2019-11-01 现行
 GB/T 37385-2019  硅中氯离子含量的测定 离子色谱法 国家市场监督管理总局. 2020-02-01 现行
 GB/T 38976-2020  硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法 国家市场监督管理总局. 2021-06-01 现行
 GB/T 39144-2020  氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法 国家市场监督管理总局. 2021-09-01 现行
 GB/T 39145-2020  硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 国家市场监督管理总局. 2021-09-01 现行
 GB/T 4059-2007  硅多晶气氛区熔基磷检验方法 国家质量监督检验检疫. 2008-02-01 作废
 GB/T 4059-2018  硅多晶气氛区熔基磷检验方法 国家市场监督管理总局. 2019-11-01 现行
 GB/T 4060-2007  硅多晶真空区熔基硼检验方法 国家质量监督检验检疫. 2008-02-01 作废
 GB/T 4060-2018  硅多晶真空区熔基硼检验方法 国家市场监督管理总局. 2019-06-01 现行
 GB/T 41153-2021  碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法 国家市场监督管理总局. 2022-07-01 现行
 SN/T 1650-2005  金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 国家质量监督检验检疫. 2006-05-01 现行
 YB/T 5312-2006  硅钙合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量 2006-10-11 作废
 YB/T 5314-2006  硅钙合金化学分析方法 EDTA滴定法测定铝量 2006-10-11 作废
 YB/T 5315-2006  硅钙合金化学分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷量 2006-10-11 作废
 YB/T 5316-2006  硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法测定碳量 2006-10-11 作废
 YB/T 5317-2006  硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法测定硫量 2006-10-11 作废
 YS/T 1059-2015  硅外延用三氯氢硅中总碳的测定 气相色谱法 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 YS/T 1060-2015  硅外延用三氯氢硅中其他氯硅烷含量的测定 气相色谱法 工业和信息化部 2015-10-01 现行
 YS/T 1107-2016  羧乙基锗倍半氧化物化学分析方法 工业和信息化部 2016-09-01 现行
 YS/T 1165-2016  高纯四氯化锗中铜、锰、铬、钴、镍、钒、锌、铅、铁、镁、铟和砷的测定 电感耦合等离子体质谱法 工业和信息化部 2017-01-01 现行
 YS/T 226.1-2009  硒化学分析方法 第1部分:铋量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法 工业和信息化部 2010-06-01 现行
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