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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  DB13/T 5026.3-2019  石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法 河北省市场监督管理局 2019-08-01 现行  DB13/T 5255-2020  石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法 河北省市场监督管理局 2020-12-19 现行  DB32/T 4027-2021  石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法 江苏省市场监督管理局 2021-06-14 现行  DB32/T 4378-2022  衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 江苏省市场监督管理局 2022-11-23 现行  GB/T 14141-1993  硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 国家技术监督局 1993-10-01 作废  GB/T 14141-2009  硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行  GB/T 1551-2021  硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行  GB 1552-1979  硅单晶电阻率直流四探针测量方法 1980-01-01 作废  GB/T 1552-1995  硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 国家技术监督局 1995-01-02 作废  GB/T 26074-2010  锗单晶电阻率直流四探针测量方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行  GB/T 39978-2021  纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行  GB 5251-1985  锗单晶电阻率直流四探针测量方法 1986-07-01 作废  GB 6615-1986  硅片电阻率的直排四探针测试方法 1987-07-01 作废  JJG 508-1987  四探针电阻率测试仪检定规程 2004-09-02 作废  JJG 508-2004  四探针电阻率测试仪检定规程 国家质量监督检验检疫. 2005-03-01 现行  SJ/T 10314-1992  直流四探针电阻率测试仪通用技术条件 电子工业部 1992-12-01 废止  SJ/T 10315-1992  四探针探头通用技术条件 电子工业部 1992-12-01 现行  SJ/T 31122-1994  四探针测试仪完好要求和检查评定方法 1997-01-01 废止  YB/T 6166-2024  石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法 工业和信息化部 2024-10-01 即将实施

共有19条符合状态条件的标准，共1页 现行 即将实施 作废 废止

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