标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
DB65/T 3485-2013 |
太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法 |
新疆维吾尔自治区质量.
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2013-12-01 |
现行 |
GB/T 11068-1989 |
砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法 |
国家技术监督局
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1990-02-01 |
作废 |
GB/T 11068-2006 |
砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
GB/T 14146-1993 |
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14146-2009 |
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
GB/T 14146-2021 |
硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-12-01 |
现行 |
GB/T 14863-1993 |
用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 |
国家技术监督局
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1994-10-01 |
作废 |
GB/T 14863-2013 |
用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
废止 |
GB/T 1553-1997 |
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 |
国家技术监督局
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1997-01-02 |
作废 |
GB/T 1553-2009 |
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
GB/T 1553-2023 |
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
GB/T 26068-2010 |
硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-10-01 |
作废 |
GB/T 26068-2018 |
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-11-01 |
现行 |
GB/T 36705-2018 |
氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-06-01 |
现行 |
GB/T 42907-2023 |
硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
GB/T 43682-2024 |
纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB 5257-1985 |
锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法 |
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1986-07-01 |
作废 |
GB/T 8757-1988 |
砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8757-2006 |
砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
SJ 2757-1987 |
重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法 |
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1987-07-01 |
现行 |
SJ 3244.1-1989 |
砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法 |
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1989-03-25 |
废止 |
SJ 3244.4-1989 |
砷化镓和磷化铟材料载流子浓度剖面分布的测试方法-电化学电压电容法 |
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1989-03-25 |
废止 |
SJ 3248-1989 |
重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法 |
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1989-03-25 |
现行 |
T/IAWBS 003-2017 |
碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 |
中关村天合宽禁带半导.
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2017-12-31 |
现行 |
YS/T 679-2008 |
非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
作废 |